[实用新型]一种显示装置检测结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示装置检测技术领域，特别涉及一种显示装置检测结构。

背景技术

TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，薄膜场效应晶体管-液晶显示器)生产工艺中，需要及时检测出各工艺中出现的产片不良现象。具体包括阵列基板检测和对盒面板检测。

如图1、图2所示，为现有技术中液晶面板中阵列基板和对盒面板检测结构示意图。该阵列基板检测是针对在玻璃基板上形成的TFT基板进行的检测。由于该TFT基板中各结构排列比较细密，因此为了减小直接使用检测设备所造成的误差，采用两条第二短路棒1’将一个或多个基板上相应的数据线和栅极线分别进行短路连接。在该阵列基板检测中，一般采用将奇数条数的数据线3’或栅极线4’短路连接在一起，偶数条数的数据线3’或栅极线4’短路连接在一起。通过对第一短路棒施加测试信号，进而检测该阵列基板的品质。

对盒面板由TFT基板与彩膜基板对盒中间添加液晶形成的面板，该对盒面板需要在阵列基板的基础上进行切割，得到符合产品要求的尺寸。其中图中，A-A表示切割线。位于A-A上部区域为阵列基板区域，进行的检测为阵列基板检测。位于A-A下部区域至B-B切割线之间为对盒面板区域，进行的检测为对盒面板检测。在切断的同时，将与该对盒面板事先连接的外围辅助电路同时切断掉(例如阵列基板上的短路棒)。针对对盒面板的检测称为对盒面板检测。在大尺寸面板制造过程中，由于面板尺寸变大，作业人员进行检查作业时间变长，且更容易漏检不良，因此需要利用自动设备进行检查，而此时也需要利用短路棒来减小设备造成的误差，对盒面板中，采用第一短路棒2’将一个或多个面板上相应的数据线3’进行短路连接，同时采用第三短路棒5’将一个或多个面板上相应的栅极线4’进行短路连接。该第一短路棒2’记作第M条短路棒，M取值1、2、3....6；第M条短路棒分别短路连接第M+6x条数的数据线3’，其中x取值0、1、2、3....N，其中N为正整数；第三短路棒5为两条，分别连接第奇数条数和第偶数条数的栅极线4’。通过对短路棒施加测试信号，进而检测该对盒面板画面品质，便于及时发现产品中出现的不良。

由于短路棒和数据线或栅极线必然存在交叉位置，当形成对盒面板需要对阵列基板进行切割时，该对盒面板的信号线端子将暴露在外面，位于外部的信号线端子很容易受到静电的影响，使得交叉位置处被静电击穿，导致不应短路的信号线端子短路在一起，进而影响对盒面板的检测。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

本实用新型要解决的技术问题是提供一种显示装置检测结构，以克服现有技术中由于短路棒连接结构的缺陷，使得面板切断后，裸露在外部的对盒面板信号端子容易受到静电击穿作用，导致检测无法正常进行的缺陷。

(二)技术方案

为了解决上述问题，本实用新型提供一种显示装置检测结构，包括：

位于对盒面板上的多条第一短路棒，所述多条第一短路棒分别连接数据线，其特征在于，还包括位于阵列基板上的第二短路棒，所述第一短路棒的至少一端通过短路棒引出线与第二短路棒连接；

所述短路棒引出线位于第一短路棒外侧的位置上安装静电保护回路，所述静电保护回路连接公共电极信号线；

位于对盒面板上的第三短路棒，所述第三短路棒连接栅极线，所述第三短路棒的至少一端通过短路棒引出线与第二短路棒连接。

进一步地，所述第一短路棒的数量为六条，依次分别记作第M条第一短路棒，M取值1、2、3....6，所述M条第一短路棒分别连接第M+6x条数的数据线，其中x取值0、1、2、3...N，其中N为正整数；所述第二短路棒的数量为两条，第1、3、5条第一短路棒的至少一端通过短路棒引出线与其中一个第二短路棒连接；第2、4、6条第一短路棒的至少一端通过短路棒引出线与另一个第二短路棒连接；

所述第三短路棒为两条，所述两条第三短路棒分别连接第奇数条栅极线和第偶数条栅极线，所述一条第三短路帮的至少一端通过短路棒引出线与一条第二短路棒连接，另一条第三短路棒的至少一端通过短路棒引出线与另一条第二短路棒连接。

进一步地，所述短路棒引出线位于所述数据线或栅极线的外侧。

进一步地，所述第一短路棒的两端延长至公共电极信号线的外部；第三短路棒的两端延长至公共电极信号线的外部。

进一步地，所述静电保护回路由至少两个TFT结构构成。

进一步地，所述第二短路棒与第一短路棒平行。