[实用新型]用于可靠性环境TC测试的治具有效

专利信息
申请号: 201120223728.2 申请日: 2011-06-28
公开(公告)号: CN202141713U 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 储征毓;曹刚;沈国飞 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G01N33/00 分类号: G01N33/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 可靠性 环境 tc 测试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种测试用具,具体属于一种用于可靠性环境TC测试的治具。

背景技术

TC测试是产品可靠性测试中一项重要的环境测试项目,目的主要测试模拟的高低温环境冲击变化对IC产品所造成的影响。一般做TC测试时会将样品放置于金属托盘里,然后再置于TC机台的测试腔体内。但是,在测试过程中,设备在实现快速高低温转化的时候会产生较大的气流,这种气流往往会使样品间互相移动碰撞,从而导致样品的引脚发生弯曲变形,影响后续测试,或者因为测试样品本身太小,很容易直接被气流吹飞散落到机器内部而无法找到样品。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种用于可靠性环境TC测试的治具,可以根据不同类型样品调整样品的放置空间,避免测试的气流使样品发生移动碰撞或者被吹飞。

为解决上述技术问题,本实用新型的用于可靠性环境TC测试的治具,包括一个顶部开放的方形金属容器和多个金属体,所述各金属体分别包括一顶板、位于顶板两端且垂直于顶板的端板,顶板向下延伸出一金属挡片,所述金属挡片垂直于金属体的顶板和两端板,所述各金属体活动地设于金属容器内,且各金属挡片相互平行,金属容器内部被金属挡片分隔成多个容纳试样的区域。

在上述结构中,所述金属体的顶板平行于金属容器的底板,各金属挡片垂直于金属容器的底板且平行于金属容器其中的两侧壁,金属体的端板垂直于金属容器的底板且平行于金属容器另两侧壁。

在上述结构中,所述金属挡片是由顶板的中间位置向下延伸形成的。

进一步地,所述金属容器平行于金属挡片的两侧壁顶部分别垂直地延伸形成一水平挡片,所述两水平挡片平行于金属容器的底板,且其自由端位于侧壁的内侧。

进一步地,所述金属体的端板和与其平行的金属容器侧壁上设有相互配合的滑动定位装置。

其中,所述金属体的端板外侧分别设有滑块,与端板平行的金属容器侧壁上设有供滑块滑动的滑槽。或者,所述金属容器平行于金属体端板的两侧壁内侧设有滑块,金属体端板上设有供滑块滑动的滑槽。所述滑块为T型滑块,滑槽为T型槽。

本实用新型的治具,可以根据样品本身的尺寸大小调整金属体的位置,从而调节适合于样品的放置区域,使样品固定在合适的金属挡片之间,这样在测试气流的冲击下样品也不会发生移动碰撞,避免了样品管脚变形和小样品被吹飞等情况的发生。

附图说明

下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明:

图1是本实用新型的结构示意图;

图2是本实用新型中金属容器的结构示意图;

图3是本实用新型中金属体的结构示意图。

其中附图标记说明如下:

1为金属容器    11为底板

12为水平挡片   13为把手

2为金属体      21为顶板

22为端板       23为金属挡片

3为样品

具体实施方式

本实用新型用于可靠性环境TC测试的治具,如图1所示,包括一个顶部开放的方形金属容器1和多个金属体2。如图3所示,所述各金属体2分别包括一顶板21、位于顶板21两端且垂直于顶板21的端板22,顶板21向下延伸出一金属挡片23。所述金属挡片23垂直于金属体2的顶板21和两端板22。所述各金属体2活动地设于金属容器1内,且各金属挡片23相互平行,金属容器1内部被金属挡片23分隔成多个容纳样品3的区域,如图1所示。

所述金属体2的顶板21平行于金属容器1的底板11,各金属挡片23垂直于金属容器1的底板11且平行于金属容器1其中的两侧壁,金属体2的端板22垂直于金属容器1的底板11且平行于金属容器1的另外两侧壁。

在上述结构中,所述金属挡片23是由顶板21的中间位置向下延伸形成的。

如图2所示,所述金属容器1平行于金属挡片23的两侧壁顶部分别垂直地延伸形成一水平挡片12,所述两水平挡片12平行于金属容器1的底板11,且其自由端位于侧壁的内侧。所述金属容器1侧壁外设有把手13。

所述金属体2的端板22和与其平行的金属容器1侧壁上设有相互配合的滑动定位装置。其中,所述金属体2的端板22外侧分别设有滑块,与端板22平行的金属容器1侧壁上设有供滑块滑动的滑槽。或者,所述金属容器1平行于金属体2端板22的两侧壁内侧设有滑块,金属体2端板22上设有供滑块滑动的滑槽。所述滑块为T型滑块,滑槽为T型槽。

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