[发明专利]基于荧光淬灭传感器的检测的温度效应补偿装置及方法

权利要求书

1.一种基于荧光淬灭传感器的检测的温度效应补偿装置，其特征在于，该方法包括步骤：

校正参数获取模块，用于测量荧光淬灭传感器的敏感膜的温度特性，获得所述敏感膜的温度校正参数，并将其发送至信号处理模块；

工作参数获取模块，用于测量所述敏感膜工作时的实时温度数据，并将其发送至信号处理模块；

信号处理模块，用于根据所述温度校正参数以及实时温度数据，对所述敏感膜受激发出的荧光信号进行温度效应补偿。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

激发光源，用于对所述敏感膜进行照射，使其激发出荧光；

探测器，与所述校正参数获取模块以及所述信号处理模块均相连，用于采集所述敏感膜受激发出的荧光信号，并将其发送至校正参数获取模块以及信号处理模块。

3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述工作参数获取模块进一步包括：

温度传感器，与所述敏感膜以及信号处理模块相连，用于采集所述敏感膜工作时的实时温度数据，并将其发送至信号处理模块。

4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述信号处理模块进一步包括：

存储单元，用于接收并存储所述温度校正参数；

补偿单元，用于根据所述荧光信号、实时温度数据以及温度校正参数对所述探测器采集的荧光信号进行温度效应补偿。

5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

信号调理模块，连接于所述探测器与所述信号处理模块之间、所述探测器与所述校正参数获取模块之间、以及所述温度传感器与所述信号处理模块之间，用于对所述荧光信号以及实时温度数据进行滤波及放大处理。

6.如权利要求1-5任一项所述的装置，其特征在于，所述温度传感器为热敏电阻。

7.一种基于荧光淬灭传感器的检测的温度效应补偿方法，其特征在于，该方法包括步骤：

S1.测量荧光淬灭传感器的敏感膜的温度特性，获得所述敏感膜的温度校正参数；

S2.测量所述敏感膜工作时的实时温度数据；

S3.根据所述温度校正参数以及实时温度数据，对所述敏感膜受激发出的荧光信号进行温度效应补偿。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，步骤S1进一步包括步骤：

S1.1将所述敏感膜置于温度可控的环境中；

S1.2测量记录所述敏感膜在至少两个不同温度下被激光照射所激发的荧光信号；

S1.3根据所述荧光信号拟合荧光强度随温度变化的校正曲线，得到温度校正参数。