[发明专利]半导体激光器老化及寿命测试保护系统无效
| 申请号： | 201110453164.6 | 申请日： | 2011-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN102520336A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;吴迪;王江勃 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 老化 寿命 测试 保护 系统 | ||
【权利要求书】：
1.半导体激光器老化及寿命测试保护系统，其特征在于：包括半导体激光器工作平台、液冷通道、温度检测装置和计算机处理系统；所述温度检测装置包括多个温度探头和用以同时采集多路温度探头信号的温度采集模块，其中，所述多个温度探头一一对应于半导体激光器工作平台上的半导体激光器；所述温度采集模块的输出端与计算机处理系统的温度数据输入端连接，计算机处理系统的控制信号端分出多路信号线分别连接至相应的各个半导体激光器驱动电源的开关电路。
2.根据权利要求1所述的半导体激光器老化及寿命测试保护系统，其特征在于：所述液冷通道为水流冷却回路，该水流冷却回路包括冷水机和流量计，计算机处理系统通过设置流量阈值组成用以调节冷水机出水量的反馈控制回路。
3.根据权利要求2所述的半导体激光器老化及寿命测试保护系统，其特征在于：所述的流量计是带有涡轮或者叶轮的流量系统。
4.根据权利要求1所述的半导体激光器老化及寿命测试保护系统，其特征在于：所述温度探头为接触式探头。
5.根据权利要求1所述的半导体激光器老化及寿命测试保护系统，其特征在于：每个半导体激光器均设置有过压保护和过流保护。
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