[发明专利]成像盒存储的记录材料剩余量检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201110436350.9 申请日: 2011-12-22
公开(公告)号: CN103176390A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 陈其铭 申请(专利权)人: 珠海艾派克微电子有限公司
主分类号: G03G21/00 分类号: G03G21/00;G03G15/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 牛峥;王丽琴
地址: 519075 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 成像 存储 记录 材料 剩余 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种成像盒存储的记录材料剩余量检测装置,用于检测记录材料仓中的记录材料剩余量,其特征在于,包括:光发射部件、光反射部件及光接收部件,其中,

光发射部件,位于记录材料仓顶壁上,用于向光反射部件发射预设角度的光束;

光反射部件,置于记录材料仓中,水平放置在记录材料上表面,且反光面正对光发射部件及光接收部件,用于将从光发射部件接收的光束反射给光接收部件;

光接收部件,位于记录材料仓顶壁上,用于接收光发射部件反射的光束,确定反射光束接收位置。

2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述光接收部件包括排列为一行的至少两个光接收单元,所述确定反射光束接收位置是根据接收到反射光束的光接收单元位置确定的。

3.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述装置还包括计算功能模块,用于根据反射光束接收位置计算记录材料剩余量信息;

所述计算功能模块采用公式100×(n-m)/(n-1)%计算得到记录材料剩余量信息值,其中,n为光接收单元的总数目,m是接收到反射光束的光接收单元序号,光接收单元从1到n随着可接收反射光束的先后顺序依次排列。

4.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述光接收部件包括排列为一行的多个导光柱,连接成像装置主体面板的观察窗,所述确定反射光束接收位置是根据接收到反射光束的导光柱位置确定的;

所述导光柱将接收的反射光束传导给成像装置主体面板的观察窗。

5.如权利要求1~4任一所述的检测装置,其特征在于,所述光发射部件为光发射器,所述光发射器的发光窗口为光发射部件发出光束的出射端 面,所述出射端面朝向记录材料仓内部。

6.如权利要求1~4任一所述的检测装置,其特征在于,所述光发射部件包括光发射器和第一透光窗,所述第一透光窗位于记录材料仓顶壁上,且朝向记录材料仓内部的一面为光发射部件发出光束的出射端面;所述光发射器位于记录材料仓外部,且所述光发射器的发光窗口发出的光束经过所述第一透光窗照射到光反射部件的反光面上。

7.如权利要求1~4任一所述的检测装置,其特征在于,所述光接收部件为光接收器,所述光接收器的接收窗口为光接部件接收反射光束的入射端面,所述入射端面朝向记录材料仓内部。

8.如权利要求1~4任一所述的检测装置,其特征在于,所述光接收部件包括光接收器和第二透光窗,所述第二透光窗位于记录材料仓顶壁上,且朝向记录材料仓内部的一面为光接部件接收反射光束的入射端面;所述光接收器位于记录材料仓外部,且所述光反射部件反射的光束通过所述第二透光窗照射到光接收器的接收窗口上。

9.如权利要求1~4任一所述的检测装置,其特征在于,所述光反射部件还包括突起部件,用于咬合记录材料仓侧壁,保持光反射部件水平放置在记录材料上。

10.如权利要求1~4任一所述的检测装置,其特征在于,所述光反射部件还包括下放开关,用于将光反射部件固定在记录材料仓顶壁上,当需要安装成像盒时,打开下放开关,光反射部件水平放置在记录材料上。

11.如权利要求1~4任一所述的检测装置,其特征在于,所述光反射部件与记录材料之间包括密封薄膜,用于保证光反射部件的反光面不被记录材料污染。

12.一种利用权利要求1所述的检测装置的成像盒存储的记录材料剩余量检测方法,其特征在于,该方法包括:

记录材料剩余量检测装置中的光发射部件发射光束到光反射部件上;

光反射部件将发射光束反射,得到反射光束,反射光束被光接收部件接 收;

光接收部件确定接收到反射光束的位置。

13.如权利要求12所述的检测装置,其特征在于,该方法还包括:记录材料剩余量检测装置根据光接收部件上能够接收到反射光束的位置,确定记录材料仓中的记录材料剩余量信息值。

14.如权利要求13所述的检测方法,其特征在于,所述光接收部件中具有排列为一行的至少两个光接收单元,所述确定反射光束位置是根据接收到反射光束的光接收单元位置确定的;

所述确定记录材料仓中的记录材料剩余量信息值采用公式100×(n-m)/(n-1)%计算得到,其中,n为光接收单元的总数目,m是接收反射光束的光接收单元编号,光接收单元从1到n随着可接收反射光束的先后顺序依次排列。 

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