[发明专利]一种非均匀陶瓷介质基板的制备方法

权利要求书

1.一种非均匀陶瓷介质基板的制备方法，其特征在于，所述方法包括：

将具有不同介电常数的陶瓷坯料片材上下对齐进行叠层，压合成介电常数成梯度变化的层状陶瓷坯料；

将层状陶瓷坯料沿介电常数成梯度变化的方向进行切割分离，获得三角柱体陶瓷坯料；

将三角柱体陶瓷坯料拼接成介电常数由中心轴向外成梯度变化的长方体，冷等静压与高温烧结后获得非均匀陶瓷介质基板。

2.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述方法之前，还包括：

采用粉末压制成型、挤压成型、流延成型、或者射出成型的方式制备陶瓷坯料片材。

3.根据权利要求2所述的制备方法，其特征在于，所述粉末压制成型包括：模压成型或者等静压成型。

4.根据权利要求2所述的制备方法，其特征在于，所述采用流延成型的方式制备陶瓷坯料片材，具体包括：

将陶瓷粉末与分散剂、粘合剂、溶剂、以及表面活性剂混合制成陶瓷浆料，经流延制成陶瓷坯料片材。

5.根据权利要求4所述的制备方法，其特征在于，所述陶瓷浆料还包括助烧剂。

6.根据权利要求4所述的制备方法，其特征在于，所述经流延制成陶瓷坯料片材之后，还包括：

对具有相同介电常数的陶瓷坯料片材进行叠层，在预设的温度下对叠层的陶瓷坯料片材进行真空热压。

7.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述陶瓷坯料片材为：氧化物陶瓷、氮化物陶瓷、碳化物陶瓷、以及硼化物陶瓷中的至少一种。

8.根据权利要求7所述的制备方法，其特征在于，所述陶瓷坯料片材为同种陶瓷，各陶瓷坯料片材中各组分所占的比例不同。

9.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述非均匀陶瓷介质基板的介电常数由中心轴向外呈梯度逐渐增大或者减小的规律变化。

10.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于，所述非均匀陶瓷介质基板的介电常数由中心轴向外呈梯度变化的规律为：先增大再减小、或者先减小再增大。