[发明专利]基于低压检测功能的复位电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种射频识别系统复位电路，具体来说，涉及一种无源智能卡标签芯片中基于低压检测功能的复位电路。

背景技术

射频识别系统，是由电子标签，读写器和计算机网络组成的自动识别系统，通常由读写器在一个区域发射能量形成电磁场，电子标签经过该区域时，检测到读写器信号后发送存储数据，读写器接收标签发送的信号，解码并校验数据的准确性以达到识别的目的。

无源智能卡标签芯片，指的是标签内部无电池，依靠接收读写器发出的射频信号，将载波转化为直流电供芯片内部电路工作，它集成了微处理器(MCU)和存储单元(随机存储器RAM、电可改写可编程存储器EEPROM以及固化了芯片操作系统的只读存储器ROM)。

复位电路，是一种为保证芯片中微机系统能在一个正常稳定的状态下工作的电路结构。对于无源智能卡标签芯片中的电路来说，电源是由外部读写器的能量来提供的，所以，对功耗的要求较为苛刻，而且电源电压会受到各种环境因素的影响。当芯片的电源电压突然衰减到一个很低的值时，芯片中的微处理器将会产生一些不确定的现象，很有可能在与读写器通信过程中使传输数据错误或损坏。而传统的复位电路一般只具有上电复位功能，并另外加入数据保护电路，才能确保通信过程中数据的正确性。这不仅使电路结构更复杂，增加了面积和设计的困难度，且增加的另一部分数据保护电路产生了额外的功耗。

发明内容

针对以上的不足，本发明提供了一种结构简单、功耗低的基于低压检测功能的复位电路，它包括：用于形成复位电路产生复位信号所需的门限电压值，并根据门限电压值界定电源VDD电压上电或掉电过程中复位电路的工作状态的电压检测模块；用于在复位电路非正常工作时输出低电平作为复位信号，以及在复位电路正常工作时输出高电平的复位输出模块；用于在复位电路非正常工作时输出低电平作为存储器锁使能信号，以及在复位电路正常工作时输出高电平作为存储器使能信号的电压放大模块。

它还包括对复位输出模块的输出电压进行整形的电压整形A模块。

它还包括对电压放大模块的输出电压进行整形的电压整形B模块。

所述电压检测模块由电阻R11、电阻R12、PMOS 111、PMOS 112、PMOS 16、PMOS 17、PMOS 18、PMOS 19、NMOS 113、NMOS 13、NMOS14和NMOS 15组成，其中，电阻R11阻值大于电阻R12的阻值，电阻R11一端接电源VDD，电阻R11另一端通过结点b1与电阻R12一端串联，电阻R12另一端通过结点b2连接NMOS 13的漏极和栅极，NMOS13的源极接地，PMOS 18的漏极接电源，PMOS 18的源极与PMOS 16的漏极相连，PMOS 18的栅极与PMOS 16和NMOS 14的栅极相连并连接到结点b1，PMOS 16的漏极通过结点N1与NMOS 14的漏极相连，NMOS14的源极接地，PMOS 19的漏极接电源，PMOS 19的源极与PMOS 17的漏极相连，PMOS 19的栅极与PMOS 17和NMOS 15的栅极相连并连接到结点b2，PMOS 17的漏极通过结点N2与NMOS 15的漏极相连，NMOS 15的源极接地，PMOS 111的漏极接电源，PMOS 111的源极与PMOS 112的漏极相连，PMOS 111的栅极与PMOS 112和NMOS 113的栅极相连并连接到结点b1，PMOS 112的漏极通过结点N3与NMOS 113的漏极相连，NMOS 113的源极接地。

所述复位输出模块由PMOS 24、PMOS25、PMOS26、NMOS 21、NMOS 22和NMOS 23组成，PMOS 24的源极接电源，PMOS 24的栅极与NMOS 21的栅极相连并连接到结点N1，PMOS 24的漏极通过结点up与NMOS 21的漏极相连，NMOS 21的源极接地，PMOS 25的源极接电源，PMOS 25的源极栅极与NMOS 22的栅极相连并连接到结点N2，PMOS 25的源极漏极通过结点down与NMOS 22的漏极相连，NMOS 22的源极接地，PMOS 26的源极接电源，PMOS 26的栅极连接到结点up，PMOS 26的漏极通过结点N4与NMOS 23的漏极相连，NMOS 23的栅极连接到结点down，NMOS 23的源极接地。