[发明专利]成像装置、成像系统和成像装置的控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及成像装置、成像系统和成像装置的控制方法。更具体而言，本发明涉及用于放射线成像装置和放射线成像系统的成像装置以及成像装置的控制方法，所述放射线成像装置和放射线成像系统优选用于诸如医疗诊断中的一般成像的静态成像和诸如X射线透视(radioscopic)成像的运动成像。

背景技术

近年来，作为用于X射线医疗图像诊断和X射线非破坏性检查的成像装置，使用由半导体材料形成的平板检测器(FPD)的放射线成像装置已投入实用。例如，这种放射线成像装置在医疗图像诊断中已被用作用于诸如一般成像的静态成像以及用于诸如X射线透视成像的运动成像的数字成像装置。

美国专利No.6115451讨论了使通过放射线成像获取的图像经受偏移(offset)去除处理的放射线成像装置。偏移主要由检测器的暗电流产生。希望执行用于从检测器的读数去除偏移的偏移校正以提高图像质量。

美国专利No.6115451讨论了用于获取更适当的偏移读取值以减少图像伪像(artifact)的成像方法。根据美国专利No.6115451，在执行曝光读取之前，在曝光读取之前的待机(standby)操作时间段(以下，称为曝光准备时段)的期间重复不存储数据的读取。

在曝光读取之后，读取操作被重复N次(N是等于或大于1的整数)，并然后执行偏移读取。N越大，则伪像去除效果越大。该方法允许在检测器被仿真地(artificially)恢复到曝光之前的状态之后执行偏移读取。

在使用光电转换元件的检测器中，偏移(暗电流)由于以下的原因而导致问题。如美国专利No.6448561中讨论的那样，大的暗电流在紧接着接通放射线成像装置的电源以将偏置(bias)施加到光电转换元件之后流动，并且直到偏移稳定为止花费很多的时间。因此，在将偏置施加到光电转换元件之后直到偏移稳定为止，偏移变动。因此，希望执行偏移校正以校正偏移的变动。

美国专利No.6115451中讨论的偏移校正不能令人满意地应对美国专利No.6448561中讨论的偏移的变动，并且，图像伪像可被增加。

另一方面，美国专利No.6448561中讨论的方法在将偏置施加到光电转换元件之后直到偏移稳定为止不能执行成像，使得该方法不能满足缩短曝光准备时段的要求。

发明内容

本发明针对能够缩短曝光准备时段并对于偏移变动执行适当偏移校正的成像装置和成像系统。

根据本发明的一个方面，成像装置包括：检测器，在检测器中，以矩阵布置各包含被配置为将放射线或光转换成电荷的转换元件的多个像素，其中，检测器执行用于输出与照射检测器的放射线或光对应的曝光图像数据的曝光成像操作、用于输出用于校正曝光图像数据的作为暗状态中的图像数据的校正图像数据的校正成像操作、在开始将偏置施加到转换元件与曝光成像操作之间的时间期间用于使转换元件的特性稳定的曝光成像准备操作、以及在曝光成像操作和校正成像操作之间包含用于使转换元件初始化的初始化操作的校正成像准备操作；校正单元，被配置为使用校正图像数据来校正曝光图像数据；以及控制单元，被配置为控制检测器的操作，其中，控制单元根据从曝光成像准备操作移换(shift)到曝光成像操作时的偏移变动量来确定初始化操作的次数，并且控制检测器的操作以基于确定的次数来执行初始化操作。

根据本发明，提供了不仅能够满足缩短曝光准备时段的要求、而且能够对于偏移变动执行适当偏移校正的成像装置和成像系统。根据曝光准备时段的长度来执行偏移校正，以总是允许获取具有较少伪像的放射线图像。

从参照附图对示例性实施例的以下详细描述，本发明的进一步的特征和方面将变得明显。

附图说明

被并入说明书中并构成其一部分的附图示出本发明的示例性实施例、特征和方面，并与描述一起用于解释本发明的原理。

图1是包括根据本发明示例性实施例的成像装置的成像系统的示意图。

图2是根据本发明示例性实施例的成像装置的示意性等效电路。

图3是示出根据本发明第一示例性实施例的成像装置和成像系统的操作的流程图。

图4A示出根据本发明示例性实施例的成像装置中的偏移变动量对时间的特性。图4B示出根据本发明示例性实施例的用于确定操作的信息。

图5A和图5B是示出根据本发明第一示例性实施例的成像装置和成像系统的操作的时序图(timing chart)。

图6A、图6B和图6C是示出根据本发明第一示例性实施例的成像装置和成像系统的操作的时序图。