[发明专利]一种基于SiC衬底的倒装激光器芯片及其制作方法有效
| 申请号: | 201110274959.0 | 申请日: | 2011-09-16 |
| 公开(公告)号: | CN103001119A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
| 发明(设计)人: | 苏建;夏伟;张秋霞;任忠祥;徐现刚 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子有限公司 |
| 主分类号: | H01S5/02 | 分类号: | H01S5/02;H01S5/042 |
| 代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 吕利敏 |
| 地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 sic 衬底 倒装 激光器 芯片 及其 制作方法 | ||
1.一种基于SiC衬底的倒装激光器芯片,包括:
a、常规激光器芯片,芯片结构从下到上依次包括:衬底、缓冲层、N限制层、有源区、P限制层、P型欧姆接触层、电流阻挡层、金属欧姆接触层;
b、一SiC衬底,该SiC衬底底面镀有金属欧姆接触层,另一面镀有金属键合层;
所述常规激光器芯片的金属欧姆接触层通过所述SiC衬底上的金属键合层键合在一起;去除衬底后的常规激光器芯片缓冲层面蒸镀有电极金属层。
2.如权利要求1所述的基于SiC衬底的倒装激光器芯片,其特征在于所述的常规激光器芯片的衬底选自Al2O3、GaN、Si、InP或GaAs衬底中的任意一种。
3.如权利要求1所述的基于SiC衬底的倒装激光器芯片,其特征在于所述SiC衬底的金属键合层选自TiAu、Au、AuSn、NiAu、Ag或In。
4.如权利要求1所述的基于SiC衬底的倒装激光器芯片,其特征在于所述SiC衬底的金属键合层的厚度为0.5μm-3μm。
5.如权利要求1所述的基于SiC衬底的倒装激光器芯片,其特征在于所述常规激光器芯片的电流阻挡层选自SiO2、SiN4或Al2O3。
6.如权利要求1所述的基于SiC衬底的倒装激光器芯片,其特征在于所述电流阻挡层的厚度为100nm-500nm。
7.如权利要求1所述的基于SiC衬底的倒装激光器芯片,其特征在于所述常规激光器芯片的金属欧姆接触层选自NiAu、TiAu、GeAu或CrAu;其中优选的,所述金属欧姆接触层厚度为0.5μm-3μm。
8.如权利要求1所述的基于SiC衬底的倒装激光器芯片,其特征在于所述常规激光器结构选用氧化物条形结构或脊型结构。
9.如权利要求1所述的基于SiC衬底的倒装激光器芯片,其特征在于常规激光器芯片结构从下到上依次包括:GaAs衬底(1)、GaAs缓冲层(2)、N限制层(3)、有源区(4)、P限制层(5)、GaAs欧姆接触层(6),厚度为250-300nm的SiO2电流阻挡层(7)、厚度为2~3μm的NiAu金属欧姆接触层(8);
一SiC衬底10底面镀有NiAu欧姆接触层(9),厚度为2~3μm;另一面镀有TiAu金属键合层(11),厚度为1~1.5μm;
所述常规激光器芯片的NiAu金属欧姆接触层(8)通过所述SiC衬底(10)上的金属键合层(11)键合在一起;去除GaAs衬底1后的常规激光器芯片面蒸镀有NiAu电极金属层(12),该NiAu电极金属层(12)作为激光器芯片的N电极,SiC衬底底面NiAu欧姆接触层(9)作为激光器芯片的P电极。
10.权利要求1-9任一项基于SiC衬底的倒装激光器芯片的制作方法,步骤如下:
(1)常规激光器芯片的制备
按常规MOCVD外延生长方法,在衬底上生长激光器芯片外延层,从下到上依次包括衬底、缓冲层、N限制层、有源区、P限制层、P型欧姆接触层,常规工艺制备激光器管芯,包括电流阻挡层、金属欧姆接触层;
(2)将SiC衬底底面蒸镀金属欧姆接触层,另一面蒸镀金属键合层;
(3)将步骤(1)制备的常规激光器芯片金属欧姆接触层与步骤(2)制备的SiC衬底的金属键合层键合在一起;
(4)去除常规激光器芯片的衬底,在去除衬底的激光器芯片一面蒸镀电极金属层,此电极金属层作为激光器芯片的N电极,SiC衬底底面金属欧姆接触层作为激光器芯片的P电极,形成一个倒装的激光器芯片。
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