[发明专利]近晶态液晶空间散射度测量方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种液晶空间散射度测量方法和装置，尤指一种评价近晶态液晶散射性能的测量。

背景技术

近晶态液晶材料是一种新型的液晶显示材料，其可以在磨砂遮光和全透明状态之间切换，甚至可以切换多种不同的渐进灰度阶状态。更为重要的是，在撤去电信号的情况下，近晶态液晶也能保持加载电压时所产生的光效应，具有良好的多稳态特性。由于只有在改变近晶态液晶分子排列形态的瞬间才需要加电，所以近晶态液晶材料的能耗极低，是一种绿色环保的新型材料，可应用于调光幕墙、电子书、电子标签、户外信息牌、双面显示全彩广告牌等多个领域，其功耗低、显示效果好、结构简单，具有十分广泛的应用前景。

近晶态液晶材料采用散射光线方式成像，与传统的透射式液晶成像相比，可以双面显示，没有背光模组，不需要使用偏光片，极大地提高了光能的利用率，更加节能环保。对于近晶态液晶材料，迫切需要一种客观有效的手段来评价其散射属性，不但包括散射光的强度，还要知道散射光的空间分布情况，这样才能更好的评价近晶态液晶材料的显示效果。

发明内容

本发明的目的在于提供一种近晶态液晶空间散射度的测量方法和装置，其可有效评价近晶态液晶的散射性能，得到散射光的空间分布规律。

为了实现上述目的，本发明一方面提供一种近晶态液晶空间散射度测量方法，包括如下步骤：

（1）、光源发出准直细光束垂直入射到待测近晶态液晶测试片上；

（2）、将测试片在其所处平面内绕入射光线的中心轴旋转一角度；

（3）、将光电探测器分别调整到待测视场方向角和，即光电探测器与光线入射方向的夹角分别为和，其中_{0≤∣∣﹤π/2}，_{0≤∣∣﹤π/2}，且_{∣∣≠∣∣}，分别测量第一位置的散射光强度q₁和第二位置的散射光强度q_2，散射光强度q符合广义高斯分布函数，其概率密度函数为式Ⅰ：

                    （Ⅰ）

其中，在0~之间取值；为形状参数，代表密度函数的衰减速度，；为尺度参数，将其定义为散射空间分布系数，代表散射程度的强弱，β＞0，对于散射均匀的理想情况，为标量，对于不均匀散射的情况，是方位角的函数；Γ是gamma函数；

由式Ⅱ计算散射空间分布系数值，

                         （Ⅱ）。

进一步地，可以使用多个相同的光电探测器来同步完成步骤（3）中的散射光强度测量。

本发明另一方面提供一种近晶态液晶空间散射度测量装置，它包括光源、圆弧滑轨、至少一个光电探测器，光源、待测近晶态液晶测试片和光电探测器沿光线传播方向设置，光电探测器可沿导轨滑动地放置在圆弧滑轨上。圆弧滑轨最好是精密圆弧滑轨。

优选地，该测量装置还可以包括能够以待测近晶态液晶测试片所在平面的法线为轴线旋转的夹具，待测近晶态液晶测试片安排在夹具上。

进一步地，光源可以是单色光光源或者白光光源。

进一步地，光源可以是面光源，在光源和待测近晶态液晶测试片之间沿光线传播方向依次配置准直系统和可调光阑。

进一步地，圆弧滑轨的圆心与光线入射待测近晶态液晶测试片的中心点重合。

进一步地，光电探测器接收面的法线与入射光线相交且交点落在待测近晶态液晶测试片上。

进一步地，光源和光电探测器可以放置在待测近晶态液晶测试片的同侧，也可以分别放置在待测近晶态液晶测试片的两侧。