[发明专利]触控感测方法以及装置

权利要求书

1.一种触控感测方法，用以侦测一感测阵列，所述感测阵列包括至少一感测列，所述触控感测方法包括：

(a)根据自所述感测列撷取之复数感测资料信号获得一感测曲线；

(b)判断所述感测曲线之一曲线特征是否与复数预设曲线特征中一者相同；以及

(c)根据关于所述感测列之所述判断结果来获知所述感测列之触控状况。

2.根据权利要求1所述的触控感测方法，其特征在于，更包括优化所述感测曲线。

3.根据权利要求1所述的触控感测方法，其特征在于，所述步骤(a)包括：

计算所述感测资料信号中每两感测资料信号之差，以获得复数差动值；以及根据所述差动值来获得所述感测曲线。

4.根据权利要求1所述的触控感测方法，其特征在于，所述曲线特征以及所述预设曲线特征为曲线轮廓。

5.根据权利要求1所述的触控感测方法，其特征在于，所述感测列之触控状况包括以下至少一者：所述感测列是否被至少一物体触控、触控所述感测列之物体数量、触控所述感测列之至少一物体在所述感测列上之位置、触控所述感测列之一至少物体在所述感测列上之触控面积。

6.根据权利要求1所述的触控感测方法，其特征在于，每一所述感测列包括复数感测胞，且所述感测资料信号分别撷取自所述感测胞。

7.根据权利要求6所述的触控感测方法，其特征在于，所述感测资料信号表示与所述感测列之所述感测胞相关之电容值。

8.根据权利要求1所述的触控感测方法，其特征在于，当所述感测阵列包括依序配置之复数感测列时，自所述感测列中每次选择一者作为一待侦测感测列，且所述感测列中至少两者被选择。

9.根据权利要求8所述的触控感测方法，其特征在于，更包括当获得关于所述感测列中至少两者的所述判断结果时，根据所述判断结果来获知所述感测阵列之触控状况。

10.根据权利要求9所述的触控感测方法，其特征在于，所述感测阵列之触控状况包括以下至少一者：所述感测阵列是否被至少一物体触控、触控所述感测阵列之物体数量、触控所述感测阵列之至一物体在所述感测阵列上之座标、以及触控所述感测阵列之至一物体在所述感测阵列上之触控面积。

11.一种触控感测装置，用于侦测一感测阵列，所述感测阵列包括至少一感测列，包括：

一计算单元，用以根据自所述感测列撷取之复数感测资料信号获得一感测曲线；

一判断单元，用以判断所述感测曲线之一曲线特征是否与复数预设曲线特征之一者相同；以及

一侦测单元，用以根据关于所述感测列之所述判断结果来侦测所述感测列之触控状况。

12.根据权利要求11所述的触控感测装置，其特征在于，所述判断单元包括一曲线处理器，用以对所述待侦测感测列执行优化处理。

13.根据权利要求11所述的触控感测装置，其特征在于，所述计算单元更计算所述感测资料信号中每两感测资料信号之差以获得复数差动值，且所述判断单元根据所述差动值来获得所述感测曲线。

14.根据权利要求11所述的触控感测装置，其特征在于，所述曲线特征以及所述预设曲线特征为曲线轮廓。

15.根据权利要求11所述的触控感测装置，其特征在于，所述感测列之触控状包括以下至少一者：所述感测列是否被至少一物体触控、触控所述感测列之物体数量、触控所述感测列之至少一物体在所述感测列上之座标、以及触控所述感测列之至少一物体在所述感测列上之触控面积。

16.根据权利要求11所述的触控感测装置，其特征在于，每一所述感测列包括复数感测胞，且所述计算单元分别自所述感测胞撷取所述感测资料信号。

17.根据权利要求16所述的触控感测装置，其特征在于，所述感测资料信号表示与所述测感测列之所述感测胞相关之电容值。

18.根据权利要求11所述的触控感测装置，其特征在于，当所述感测阵列包括依序配置之复数感测列时，所述计算单元自所述感测列中每次选择一者作为一待侦测感测列，且所述感测列中至少两者被选择。