[发明专利]一种仪表电机磨合老化测试装置及方法有效
| 申请号: | 201110167770.1 | 申请日: | 2011-06-21 |
| 公开(公告)号: | CN102331556A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
| 发明(设计)人: | 陈迅;俞孟蕻;杨海兴;朱志宇;李绍鹏 | 申请(专利权)人: | 江苏科技大学 |
| 主分类号: | G01R31/34 | 分类号: | G01R31/34 |
| 代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
| 地址: | 212003*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 仪表 电机 磨合 老化 测试 装置 方法 | ||
1.一种仪表电机磨合老化测试装置,其特征在于该装置由驱动信号发生单元(1)、信号分配单元(2)、十个电机驱动单元(3)、十个电机测试接插板(4)和键盘及显示单元(7)构成;信号分配单元(2)、键盘及显示单元(7)分别与驱动信号发生单元(1)相连接;十个电机驱动单元(3)分别与信号分配单元(2)相连接;电机测试接插板(4)分别与对应的电机驱动单元(3)相连接;待磨合老化的电机(5)通过插座连接在电机测试接插板(4)上,一个电机驱动单元(3)和一个电机测试接插板(4)组成一个测试分组。
2.根据权利要求1所述的一种仪表电机磨合老化测试装置,其特征在于所述所述驱动信号发生单元(1)由单片机构成。
3.根据权利要求1所述的一种仪表电机磨合老化测试装置,其特征在于信号分配单元(2)为现场可编程逻辑器件CPLD。
4.根据权利要求1所述的一种仪表电机磨合老化测试装置,其特征在于电机驱动单元(3)由2组独立的H桥型电机驱动电路构成,每组H桥型电机驱动电路驱动仪表电机的一个线圈绕组。
5.根据权利要求1所述的一种仪表电机磨合老化测试装置,其特征在于电机测试接插板(4)采用仪表电机专用插座按照六边形蜂窝状排列;每个电机测试接插板(4)插接多个仪表电机;该多个仪表电机对应线圈绕组以并联形式连接;电机驱动单元(3)与电机测试接插板(4)之间的通过4芯导线连接。
6.一种如权利要求1所述的一种仪表电机磨合老化测试装置的测试方法,其特征在于所述方法如下:驱动信号发生单元(1)产生驱动仪表电机转动的驱动信号,该驱动信号通过信号分配单元(2)根据测试要求,分别送给电机驱动单元(3),电机驱动单元(3)对信号进行功率放大后,通过电机测试接插板(4)驱动待磨合老化的电机(5)。
7.根据如权利要求6所述的一种仪表电机磨合老化测试装置的测试方法,其特征在于所述的驱动信号发生单元(1)由单片机构成,通过单片机产生电机驱动需要的两路PWM驱动信号和电机转动的方向控制信号;同时驱动信号发生单元(1)还产生电机测试分组控制信号;以上信号均送给信号分配单元(2);其中电机测试分组控制信号通过串行移位的通信方式,送给信号分配单元(2);PWM驱动信号的具体参数可根据仪表电机的特征参数通过键盘及显示单元(7)进行设定。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏科技大学,未经江苏科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110167770.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





