[发明专利]具超薄种子层的封装基板形成方法无效
| 申请号: | 201110160210.3 | 申请日: | 2011-06-15 |
| 公开(公告)号: | CN102832138A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
| 发明(设计)人: | 曾博榆 | 申请(专利权)人: | 景硕科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L23/498;H05K1/02 |
| 代理公司: | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人: | 刘俊 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 超薄 种子 封装 形成 方法 | ||
1.一种具超薄种子层的封装基板形成方法,其特征在于,包括:
压合一金属箔片至一基板的一表面;
贯穿该基板与该金属箔片形成至少一个孔洞;
蚀刻以去除该金属箔片,用以让该基板的表面成为一基面;
形成一超薄种子层于该基面及该至少一孔洞的孔璧上,其中该超薄种子层是由导电材料所构成;
压合一干膜于该超薄种子层上,以影像移转使该干膜具有至少一开口,且该至少一开口暴露出部份的超薄种子层以及该至少一孔洞;
电镀一金属于该至少一开口中的超薄种子层上,并将该至少一孔洞填满,以形成至少一个金属凸块;以及
剥除该干膜并将该至少一孔洞以外且未被该至少一个金属凸块覆盖的超薄种子层移除。
2.如权利要求1所述的制作方法,其特征在于,形成该超薄种子层的方法包含化学沉积及电浆溅镀的其中之一。
3.如权利要求1所述的制作方法,其特征在于,该超薄种子层具有一厚度,该厚度小于1μm。
4.如权利要求1所述的制作方法,其特征在于,该至少一孔洞包含埋孔、盲孔及通孔的至少其中之一。
5.如权利要求1所述的制作方法,其特征在于,该基面为一粗糙表面,而该超薄种子层随着该基面的粗糙度起伏。
6.一种具超薄种子层的封装基板形成方法,其特征在于,包括:
准备一已将一第一金属箔片及一第二金属箔片个别压合至一基板的上表面及下表面的一基料;
贯穿该基板、该第一金属箔片及该第二金属箔片,以形成至少一个孔洞;
蚀刻以去除该第一金属箔片及该第二金属箔片,用以让该基板的上表面及下表面各别成为一上基面及一下基面;
形成一超薄种子层于该上基面、该下基面及该至少一孔洞的孔壁上,其中该超薄种子层是由导电材料所构成;
压合一第一干膜于位于该上基面的超薄种子层上,并压合一第二该干膜于位于该下基面的超薄种子层上,在影像移转后使该第一干膜及该第二该干膜个别具有至少一开口,且该至少一开口暴露出部份的超薄种子层以及该至少一孔洞;
电镀一金属于所暴露出的超薄种子层上,并填满该至少一孔洞并,以形成至少一个金属凸块;以及
剥除该第一干膜及该第二干膜并将该至少一孔洞以外且未被该至少一个金属凸块覆盖的超薄种子层移除,而形成一双层结构。
7.如权利要求6所述的制作方法,其特征在于,形成该超薄种子层的方法包含化学沉积及电浆溅镀的其中之一。
8.如权利要求6所述的制作方法,其特征在于,该超薄种子层具有一厚度,该厚度小于1μm。
9.如权利要求6所述的制作方法,其特征在于,该至少一孔洞包含埋孔、盲孔及通孔的至少其中一。
10.如权利要求1所述的制作方法,其特征在于,该上基面及该下基面为一粗糙表面,而该超薄种子层随着该上基面及该下基面的粗糙度起伏。
11.如权利要求6所述的制作方法,其特征在于,进一步包含:
在该双层结构的上部及/或下部形成一第三基板;
在该第三基板上,压合一金属箔片;
贯穿该金属箔片、该第三基板以及该双层结构,而形成至少一孔洞;
蚀刻以去除该金属箔片,用以在该第三基板的表面形成一第一基面及/或一第二基面;
在该第一基面及/或该第二基面以及该至少一孔洞的孔壁上形成一超薄种子层;
压合一第三干膜于位于该第三基面的超薄种子层上,及/或压合一第四干膜于位于该第二基面的超薄种子层上,在影像移转后使该第三干膜及该第四该干膜个别具有至少一开口,且该至少一开口暴露出部份的超薄种子层以及该至少一孔洞;
电镀一金属于所暴露出的超薄种子层上,并填满该至少一孔洞并,以形成至少一个金属凸块;以及
剥除该第三干膜及该第四干膜并将该至少一孔洞以外且未被该至少一个金属凸块覆盖的超薄种子层移除,而形成一多层板结构。
12.如权利要求1所述的制作方法,其特征在于,该第一基面及/或第二基面为一粗糙表面,而该超薄种子层随着该第一基面及/或该第二基面的粗糙度起伏。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于景硕科技股份有限公司,未经景硕科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110160210.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





