[发明专利]以探针压触基板线路检测点的对位方法及其装置

说明书

技术领域

本发明提供一种以探针压触基板线路检测点的对位方法，特别涉及利用多影像感测器校对探针与检测点的基准位置，本发明也涉及实施所述方法的对位装置。

背景技术

构成液晶显示器(LCD)或触控板(Touch Panel)的玻璃基板的表面都设有电路图形结构，该电路图形结构具有多延伸至基板边缘的外接线路，且电路图形结构是利用所述外接线路与外界的控制或驱动等电路相互连接；此外，该玻璃基板于电路图形结构形成后，需经由所述外接线路上的检测点对电路图形结构进行电阻值和电容值等的量测，以判断基板的电路图形结构的良劣。

且知，用于量测上述基板的电路图形结构的检测设备，通常配备有相互连动的检测模具及影像感测器，举如影像CCD(Charge Coupled Device)感测器，且检测模具底部具有多量测用探针；该检测模具及影像感测器都能够于检测设备的检测台上沿纵向、横向及垂向位移，而使影像感测器由上而下感测检测台上的基板表面影像，以校正基板上的靶点或检测点的基准位置，并驱使检测模具依据该靶点或检测点位置而对准基板，且令所述探针随检测模具由上而下压触基板检测点，以量测基板的电路图形结构。

然而，上述影像感测器虽然能够校正基板的基准位置，但由于上述检测模具是依据基板的型号而时常替换，因此所述探针的基准位置与检测点的基准位置之间，存在着容易产生误差的隐忧，亟需加以改善。

发明内容

本发明的一目的在于提供一种以探针压触基板线路检测点的对位方法，能分别利用影像感测器校对基板与探针的基准位置，以克服上述现有技术中，所述探针的基准位置与检测点的基准位置之间容易产生误差的问题。

本发明的另一目的在于提供一种以探针压触基板线路检测点的对位装置，有利于促使基板与探针接受影像感测器校对基准位置。

为实现上述目的并解决问题，本发明提供了一种以探针压触基板线路检测点的对位方法，包含：

于一检测台上提供一能够摆放待测基板的承放盘，该基板上具有多线路的检测点；

使用该检测台上的一上影像感测器，于该承放盘上方感测该基板，并经由调动该承放盘以校正该基板的检测点的基准位置；及

使用该检测台上的一位置低于该上影像感测器的下影像感测器，于一跟随该上影像感测器移动的检测模具下方，感测该模具底部的多探针，并经由调动该承放盘或该模具，以校对所述探针与该检测点的基准位置。

据此，能够克服上述现有技术中，所述探针的基准位置与检测点的基准位置之间容易产生误差的问题，进而提升基板上电路图形结构的量测准确度。

在一具体的实施上，该承放盘能够以自转的方式调动，该上影像感测器能沿着一以上轴向位移至承放盘上方，且下影像感测器固设于检测台上，该模具跟随上影像感测器移动至下影像感测器上方。

在另一具体的实施上，该下影像感测器也能沿着一以上轴向位移至模具下方。

除此之外，本发明提供了一种以探针压触基板线路检测点的对位装置，包含：

一检测台；

一承放盘，枢置于该检测台上，该承放盘上摆放一待测基板，该基板上具有多线路的检测点；

一上影像感测器，配置于该检测台上，能够于该承放盘上方感测该基板，并经由调动该承放盘以校正该基板的检测点的基准位置；

一检测模具，连结该上影像感测器，而能够跟随该上影像感测器移动，该模具底部具有多探针；及

一下影像感测器，配置于该检测台上低于该上影像感测器的位置，能够于该模具下方感测所述探针，并经由调动该承放盘或该模具，以校对所述探针与该检测点的基准位置。

据此，有利于促使基板与探针接受影像感测器校对基准位置。

实际上，该检测台上具有一连结承放盘的第一驱动器，能驱动承放盘以自转的方式调动；该检测台上具有一连结上影像感测器的第二驱动器，能驱动上影像感测器沿着一以上轴向位移至承放盘上方；该下影像感测器固设于检测台上，该模具跟随上影像感测器移动至下影像感测器上方。

或者，该检测台上具有一连结下影像感测器的第三驱动器，也能驱动下影像感测器沿着一以上轴向位移至模具下方。

与现有技术相比，本发明所述的以探针压触基板线路检测点的对位方法及其装置，能分别利用影像感测器校对基板与探针的基准位置。

然而，为能明确且充分揭露本发明，并予列举较佳实施的图例，以详细说明其实施方式如后述：

附图说明

图1是本发明第一款实施例的流程图；

图2是本发明第二款实施例的俯视图；