[发明专利]角接触轴承沟位测量用复合测量标准块

说明书

技术领域

本发明涉及一种角接触轴承沟位测量用部件，尤其是一种角接触轴承沟位测量用复合测量标准块。

背景技术

目前，角接触轴承内外圈沟位的测量装置仍为传统的深沟球沟位仪表。由于角接触轴承的沟道形状为半沟，而非深沟球轴承的整沟。传统的测量方法包含平脚测头、仪表与被测套圈。深沟沟位测量工作原理见附（图1），平脚测头在测力的作用下可以上下偏移，也可以左右偏移。测头上下偏移时仪表的指针不动，测头左右偏移时会带动仪表跳动。测量沟位时测头在测力作用下上下移动。当测头接触到套圈滚道的第一个点时，测头处于不稳定状态，此时测头会左右移动，当测头与沟道两个点同时接触时才会处于稳定状态，此时仪表上的读数就为套圈的沟位。但是角接触轴承套圈的沟道是半沟时，（图2），测头上下左右移动，测头的点与沟道接触，测头的点找到接触点，因此找不到稳定状态的位置。半沟沟位测量不准确，而且测量量很困难。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种可以准确测量角接触轴承的沟位、结构简单、测量非常方便的角接触轴承沟位测量用复合测量标准块。

按照本发明提供的技术方案，所述角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，它包括圆柱状的测量块本体，在测量块本体的上端面一体设有上中心圆柱与上圆凸环，上圆凸环在上中心圆柱的外部，上圆凸环的上端面与上中心圆柱的上端面平齐，上圆凸环的上端面与测量块本体的轴线呈垂直设置，上中心圆柱与测量块本体呈同轴设置，上圆凸环与测量块本体呈同轴设置；

在测量块本体的下端面一体设有下中心圆柱与下圆凸环，下圆凸环在下中心圆柱的外部，下圆凸环的下端面与下中心圆柱的下端面平齐，下圆凸环的下端面与测量块本体的轴线呈垂直设置，下中心圆柱与测量块本体呈同轴设置，下圆凸环与测量块本体呈同轴设置；

下圆凸环的外径长度与测量块本体的外径长度相等，下圆凸环的内径长度大于上圆凸环的外径长度；

且上圆凸环的外径与被测角接触轴承的内圈的外径长度相同，上圆凸环的内径与被测角接触轴承的内圈的内径长度相同；下圆凸环的外径与被测角接触轴承的外圈的外径长度相同，下圆凸环的内径与被测角接触轴承的外圈的内径长度相同；测量块本体、上圆凸环与下圆凸环的高度之和等于被测角接触轴承的宽度。

所述上中心圆柱与下中心圆柱的直径长度相同。

本发明可以准确测量角接触轴承的沟位，结构简单，测量非常方便，测量重复性好，使用效果良好。

附图说明

图1是传统的深沟球沟位仪表测量深沟球轴承的内外圈沟位的操作图。

图2是传统的深沟球沟位仪表测量角接触轴承的内外圈沟位的操作图。

图3是本发明的主视图。

图4是本发明的俯视图。

图5是本发明的仰视图。

图6是本发明的测量角接触轴承的内外圈沟位的操作图之一。

图7是本发明的测量角接触轴承的内外圈沟位的操作图之二。

具体实施方式

下面结合具体附图和实施例对本发明作进一步说明。

如图所示：该角接触轴承沟位测量用复合测量标准块，它包括圆柱状的测量块本体1，在测量块本体1的上端面一体设有上中心圆柱2与上圆凸环3，上圆凸环3在上中心圆柱2的外部，上圆凸环3的上端面与上中心圆柱2的上端面平齐，上圆凸环3的上端面与测量块本体1的轴线呈垂直设置，上中心圆柱2与测量块本体1呈同轴设置，上圆凸环3与测量块本体1呈同轴设置；

在测量块本体1的下端面一体设有下中心圆柱4与下圆凸环5，下圆凸环5在下中心圆柱4的外部，下圆凸环5的下端面与下中心圆柱4的下端面平齐，下圆凸环5的下端面与测量块本体1的轴线呈垂直设置，下中心圆柱4与测量块本体1呈同轴设置，下圆凸环5与测量块本体1呈同轴设置；

下圆凸环5的外径长度与测量块本体1的外径长度相等，下圆凸环5的内径长度大于上圆凸环3的外径长度；

且上圆凸环3的外径与被测角接触轴承的内圈的外径长度相同，上圆凸环3的内径与被测角接触轴承的内圈的内径长度相同；下圆凸环5的外径与被测角接触轴承的外圈的外径长度相同，下圆凸环5的内径与被测角接触轴承的外圈的内径长度相同；测量块本体1、上圆凸环3与下圆凸环5的高度之和等于被测角接触轴承的宽度。

所述上中心圆柱2与下中心圆柱4的直径长度相同。