[发明专利]一种显示器面板测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子领域，特别涉及一种显示器面板测试方法及装置。

背景技术

GOA(Gate Driver on Array，阵列基板行驱动技术)，是直接将栅极驱动电路(Gate driver IC)制作在阵列(Array)基板上，来代替由外接硅片制作的驱动芯片的一种工艺技术。该技术的应用可减少生产工艺程序，降低产品工艺成本，提高TFT-LCD(薄膜场效应晶体管液晶显示器)面板的高集成度。

近年来GOA技术得到了全面的发展和较广泛的应用。GOA面板从GOA分布上可分为单边GOA面板(将栅极驱动电路制作到阵列基板的左侧)和双边GOA面板(在阵列基板左右两侧都制作栅极驱动电路，从两侧同时进行驱动)，从时序控制方面和单元TFT设计方面又可分为9T/13T(其中T代表TFT结构，9T即每个栅极驱动电路单元由九个TFT构成，13T即每个栅极驱动电路单元由13个TFT构成)结构、电容式(指栅极驱动电路单元中含有电容)结构等。

但目前的GOA面板相对于某些传统面板还存在很多不足之处。例如，在进行面板的V-T(电压-透射率)特性的测试中，传统方法是通过对栅极焊盘区域涂覆银胶，将焊盘区短路后接入栅极测试信号，对面板特定区域进行驱动，从而实现V-T特性的测试。但由于GOA面板将栅极驱动电路制作在阵列基板上，且隐藏于对盒内部(对盒是指液晶面板上下两层玻璃基板利用封框胶进行贴合所形成的中间填充液晶的盒装结构)，没有栅极焊盘露在外面，从而导致无法通过焊盘将测试信号与像素电路的栅极相连接，即无法直接驱动像素电路的栅极，从而无法在与PCB(印刷电路板)绑定之前测试GOA面板的各项性能。

发明内容

本发明实施例提供一种显示器面板测试方法及装置，用于实现对GOA面板的测试，从而及时获知GOA面板的性能。

一种显示器面板测试装置，包括：焊盘和驱动电路；其中：

所述焊盘用于接收测试信号；

所述驱动电路的输入端与所述焊盘相连，用于将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。

一种显示器面板测试方法，包括以下步骤：

焊盘接收测试信号；

与所述焊盘相连的驱动电路将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。

本发明实施例中焊盘接收测试信号；与所述焊盘相连的驱动电路将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。通过增加焊盘模块，为测试信号的引入提供了接口，焊盘与驱动电路的输入端相连，驱动电路的输出端直接与像素电路阵列的栅极相连，从而使测试信号通过驱动电路直接驱动像素电路阵列，以完成各类测试，从而在与PCB绑定之前可以测试GOA面板的各项性能，以鉴定GOA面板的性能优良程度，及GOA面板是否可用等等，更便于实际利用，提高GOA面板的利用率。

附图说明

图1为本发明实施例中显示器面板测试装置的主要结构图；

图2为本发明实施例中QGSD模式下GOA面板示意图；

图3为本发明实施例中显示器面板测试装置功能实现的简单示意图；

图4为本发明实施例中显示器面板测试方法的主要流程图。

具体实施方式

本发明实施例中焊盘接收测试信号；与所述焊盘相连的驱动电路将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极，驱动像素电路阵列，从而进行特性测试。通过增加焊盘模块，为测试信号的引入提供了接口，焊盘与驱动电路的输入端相连，驱动电路的输出端直接与像素电路阵列的栅极相连，从而使测试信号通过驱动电路直接驱动像素电路阵列，以完成各类测试，从而在与PCB绑定之前可以测试GOA面板的各项性能，以鉴定GOA面板的性能优良程度，及GOA面板是否可用等等。更便于实际利用，提高GOA面板的利用率。

参见图1，本发明实施例中显示器面板测试装置包括焊盘101及驱动电路102。测试信号输入端可连接焊盘1，焊盘101与驱动电路102的输入端相连，驱动电路102的输出端与GOA面板上的像素电路阵列的栅极相连。本发明实施例以QGSD(quadruple gate signal driving method，四重栅极信号驱动法)为例来介绍显示器面板测试装置。其中，本发明实施例以单边GOA面板为例进行说明。