[发明专利]一种显示器面板测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 201110116731.9 申请日: 2011-05-06
公开(公告)号: CN102629440A 公开(公告)日: 2012-08-08
发明(设计)人: 封宾;王峥 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G01R31/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示器 面板 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种显示器面板测试装置,其特征在于,包括:焊盘和驱动电路;其中:

所述焊盘用于接收测试信号;

所述驱动电路的输入端与所述焊盘相连,用于将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极,驱动像素电路阵列,从而进行特性测试。

2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述焊盘位于显示器面板顶部。

3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述驱动电路包括连接线,每根连接线与一个焊盘相连。

4.如权利要求3所述的装置,其特征在于,所述驱动电路包括引线,一根引线的一端与一根连接线相连,或多根引线的一端与一根连接线相连,一根引线的另一端与像素电路阵列的一行薄膜场效应晶体管的栅极相连。

5.如权利要求4所述的装置,其特征在于,所述驱动电路还包括晶体管,所述晶体管的栅极和源极相连作为输入端,且所述输入端与所述连接线的输出端相连,所述晶体管的漏极作为输出端,且所述输出端与所述引线的输入端相连,用于隔离连接到同一根连接线的各引线。

6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述晶体管为薄膜场效应晶体管。

7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述显示器面板为阵列基板行驱动技术GOA面板。

8.一种显示器面板,其特征在于,包括权利要求1-7所述的任一装置。

9.一种显示器面板测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

焊盘接收测试信号;

与所述焊盘相连的驱动电路将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极,驱动像素电路阵列,从而进行特性测试。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,焊盘接收测试信号的步骤包括:当包括多个焊盘时,通过每个焊盘接收相同或不同的测试信号。

11.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述驱动电路还包括晶体管,每个晶体管的栅极与源极相连,且每个晶体管的栅极与源极与所述驱动模块的输入端相连,每个晶体管的漏极与所述驱动电路的输出端相连;

驱动电路将接收的测试信号通过输出端传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极,驱动像素电路阵列,从而进行特性测试的步骤包括:通过焊盘将所述测试信号送入所述晶体管的源极与栅极,所述测试信号通过所述晶体管的漏极传输至显示器面板中的像素电路阵列的栅极,驱动像素电路阵列,从而进行特性测试。

12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,所述驱动电路包括引线,一根引线的一端与一根连接线相连,或多根引线的一端与一根连接线相连,一根引线的另一端与像素电路阵列的一行薄膜场效应晶体管的栅极相连;当没有测试信号输入时,所述晶体管截止,连接到同一根连接线的各引线互不连通。

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