[发明专利]质量分析数据处理方法和质量分析数据处理设备有效

专利信息
申请号: 201110063709.2 申请日: 2011-03-16
公开(公告)号: CN102194641A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 梶原茂树;池上将弘;森永浩子 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;G06F19/00;G01N27/62
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 质量 分析 数据处理 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种质量分析数据处理方法,用于处理通过对设置在试样的二维区域内的多个微小区域分别进行质量分析所收集到的数据,所述质量分析数据处理方法包括:

a)第一步骤,用于基于与各微小区域相对应的质谱数据,提取各微小区域的最大强度和展现该最大强度的质荷比;

b)第二步骤,用于提取在所述第一步骤获得的各微小区域的最大强度中的最大值,基于该最大值确定用于显示强度的色标,根据所述色标对各微小区域分配与在所述第一步骤获得的各微小区域的最大强度相对应的颜色,以及创建并显示与所述二维区域的部分或整体相对应的着色二维图像;以及

c)第三步骤,用于创建表示在所述第一步骤获得的各微小区域的最大强度和展现该最大强度的质荷比之间的关系的最大强度频谱,并且结合所述着色二维图像以如下方式显示所述最大强度频谱:使用所述色标中与由同一质荷比展现出的多个最大强度中的最大值相关联的颜色来示出具有与该最大值相对应的强度值的峰的至少一部分。

2.根据权利要求1所述的质量分析数据处理方法,其特征在于,还包括:

第四步骤,用于创建表示在所述第一步骤获得的展现最大强度的质荷比和具有与该质荷比相关联的最大强度的微小区域的频率之间的关系的直方图,并且结合所述着色二维图像和所述最大强度频谱显示所述直方图。

3.一种质量分析数据处理设备,用于处理通过对设置在试样的二维区域内的多个微小区域分别进行质量分析所收集到的数据,所述质量分析数据处理设备包括:

a)信息提取部件,用于基于与各微小区域相对应的质谱数据,提取各微小区域的最大强度和展现该最大强度的质荷比;

b)二维图像创建部件,用于提取由所述信息提取部件获得的各微小区域的最大强度中的最大值,基于该最大值确定用于显示强度的色标,根据所述色标对各微小区域分配与由所述信息提取部件获得的各微小区域的最大强度相对应的颜色,创建与所述二维区域的部分或整体相对应的着色二维图像,并且将所述着色二维图像显示在显示窗口上;以及

c)频谱创建部件,用于创建表示由所述信息提取部件获得的各微小区域的最大强度和展现该最大强度的质荷比之间的关系的最大强度频谱,并且结合所述着色二维图像以如下方式将所述最大强度频谱显示在所述显示窗口上:使用所述色标中与由同一质荷比展现出的多个最大强度中的最大值相关联的颜色来示出具有与该最大值相对应的强度值的峰的至少一部分。

4.根据权利要求3所述的质量分析数据处理设备,其特征在于,还包括:

直方图创建部件,用于创建表示由所述信息提取部件获得的展现最大强度的质荷比和具有与该质荷比相关联的最大强度的微小区域的频率之间的关系的直方图,并且结合所述着色二维图像和所述最大强度频谱将所述直方图显示在所述显示窗口上。

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