[发明专利]在衬底表面特别是光学元件上的锥形纳米结构、其制造方法及其用途有效
| 申请号: | 201080059070.4 | 申请日: | 2010-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN102781815A | 公开(公告)日: | 2012-11-14 |
| 发明(设计)人: | C·莫尔哈德;C·帕霍尔斯基;J·P·施帕茨 | 申请(专利权)人: | 马克思-普朗克科学促进协会 |
| 主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 李振东;过晓东 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 衬底 表面 特别是 光学 元件 锥形 纳米 结构 制造 方法 及其 用途 | ||
1.用于在衬底表面上制造锥形纳米结构的方法,包括
a)提供用纳米颗粒覆盖的衬底表面;
b)对用纳米颗粒覆盖的衬底表面以至少100nm的深度进行蚀刻,其中纳米颗粒发挥蚀刻掩膜的作用,并调节蚀刻参数以在纳米颗粒下方形成双曲结构;
c)通过施加机械力在最小直径的区域内断开双曲结构,其中留在衬底表面上的结构具有锥形的形状,其基本上对应于单层双曲结构的一半。
2.根据权利要求1的方法,其特征在于,在步骤c)中机械力是通过超声波处理、振动作用、气动力或通过摩擦施加的。
3.根据权利要求1或2的方法,其特征在于,所述蚀刻包括利用选自以下组中的蚀刻剂进行的处理:氯、气态氯化合物、氟代烃、氟化碳、氧、氩、SF6及其混合物。
4.根据权利要求1至3之一的方法,其特征在于,所述蚀刻包括利用相同蚀刻剂和/或利用不同蚀刻剂进行的多次处理。
5.根据权利要求4的方法,其特征在于,所述蚀刻包括利用Ar/SF6/O2的混合物作为蚀刻剂进行的至少一次处理和利用Ar/CHF3的混合物作为蚀刻剂进行的至少一次处理。
6.根据权利要求1至5之一的方法,其特征在于,实施蚀刻处理经历的时间段在1分钟至30分钟的范围内。
7.根据权利要求1至6之一的方法,其特征在于,所述纳米颗粒具有预先规定的二维几何排列方式。
8.根据权利要求1至6之一的方法,其特征在于,所述衬底表面的材料选自:石英玻璃、SiO2、Si、Al2O3、CaF2、GaAs。
9.根据权利要求1至8之一的方法,其特征在于,所述纳米颗粒的材料包括金属或金属氧化物或由其组成。
10.根据权利要求9的方法,其特征在于,所述纳米颗粒的金属或金属成分选自:Au、Pt、Pd、Ag、In、Fe、Zr、Al、Co、Ni、Ga、Sn、Zn、Ti、Si和Ge、其混合物和复合物。
11.根据权利要求10的方法,其特征在于,所述纳米颗粒是金纳米颗粒。
12.根据权利要求1至11之一的方法,其特征在于,所述纳米颗粒是通过胶束纳米刻蚀技术施加在所述衬底表面上的。
13.根据权利要求1至12之一的方法,其特征在于,所述衬底表面是光学元件的表面,所产生的锥形纳米结构在光学元件上形成减少反射的表面结构。
14.衬底表面,包括锥形纳米结构,其形状基本上对应于单层双曲结构的一半,其中所述锥形纳米结构的材料不是硅。
15.光学元件,具有抗反射的表面结构,包括锥形纳米结构,其形状基本上对应于单层双曲结构的一半,其中所述锥形纳米结构的材料不是硅。
16.根据权利要求15的光学元件,其具有大于95%的透射率。
17.根据权利要求14的衬底表面或根据权利要求15的光学元件,其特征在于,所述锥形纳米结构具有预先规定的二维几何排列方式,特别是六边形排列方式。
18.根据权利要求14至17之一的衬底表面或光学元件,其特征在于,所述衬底表面的材料选自:石英玻璃、SiO2、Al2O3、CaF2、GaAs。
19.根据权利要求14的衬底表面或根据权利要求15的光学元件在半导体技术、光学、传感器技术和光伏领域中的用途。
20.根据权利要求19的用途,其是用于光学装置、传感器,特别是CCD传感器和太阳能电池中。
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