[发明专利]基于单层或多层石墨烯的光探测器件有效
| 申请号: | 201080035978.1 | 申请日: | 2010-08-17 |
| 公开(公告)号: | CN102473844A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
| 发明(设计)人: | 夏丰年;P·阿沃利斯;T·米勒;林佑民 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
| 主分类号: | H01L51/42 | 分类号: | H01L51/42;H01L51/44;G02B6/122 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 酆迅 |
| 地址: | 纽约*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 单层 多层 石墨 探测 器件 | ||
1.一种光探测器件,包括:
a.衬底(10,34);
b.栅极氧化物层(12),沉积于所述衬底上;
c.石墨烯的沟道层(14,38),沉积于所述栅极氧化物层上;以及
d.源极接触区和漏极接触区(6,8,30,32,60-67),设置在所述石墨烯层上。
2.根据权利要求1所述的光探测器件,其中光探测层为单层石墨烯。
3.根据权利要求1所述的光探测器件,其中光探测层为不超过10层的石墨烯。
4.根据权利要求1、2或3所述的光探测器件,其中提供多个源极(60-63)区和漏极(64-67)区。
5.根据权利要求4所述的光探测器件,其中,所述多个源极区和漏极区包括金属叉指(60-67)。
6.根据权利要求5所述的光探测器件,其中,所述源极和漏极叉指(60-67)由具有不同功函数的不同金属制成。
7.根据前述权利要求中的任一项所述的光探测器件,进一步包括栅极偏压VG被施加于其上的背栅极(10)。
8.根据前述权利要求中的任一项所述的光探测器件,进一步包括,
栅极介电层(40),沉积于所述石墨烯层(14,38)上;以及
分离栅极(42,44),沉积于所述栅极介电层的顶部,用于跨所述石墨烯层施加电场。
9.根据前述权利要求中的任一项所述的光探测器件,进一步包括:
光波导,形成所述衬底的一部分。
10.根据权利要求1-8所述的光探测器件,进一步包括:
光波导,嵌入所述栅极氧化物层中且在所述石墨烯之下。
11.根据权利要求9或10所述的光探测器件,其中所述光波导为低损耗材料。
12.根据权利要求9、10或11所述的光探测器件,其中所述光波导选自于由硅、氮化硅以及氮氧化物组成的组。
13.一种光探测器阵列,包括多个根据前述权利要求中的任一项所述的光探测器件。
14.一种制作光探测器件的方法,包括:
a.提供衬底(10,34);
b.将栅极氧化物层(12)沉积于所述衬底上;
c.将石墨烯的沟道层(14,38)沉积于所述栅极氧化物层上;以及
d.在所述石墨烯层上构图形成源极接触区和漏极接触区(6,8,30,32,60-67)。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,沉积单层石墨烯作为所述沟道层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201080035978.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择





