[发明专利]基于单层或多层石墨烯的光探测器件有效

专利信息
申请号: 201080035978.1 申请日: 2010-08-17
公开(公告)号: CN102473844A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 夏丰年;P·阿沃利斯;T·米勒;林佑民 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42;H01L51/44;G02B6/122
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 酆迅
地址: 纽约*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 基于 单层 多层 石墨 探测 器件
【权利要求书】:

1.一种光探测器件,包括:

a.衬底(10,34);

b.栅极氧化物层(12),沉积于所述衬底上;

c.石墨烯的沟道层(14,38),沉积于所述栅极氧化物层上;以及

d.源极接触区和漏极接触区(6,8,30,32,60-67),设置在所述石墨烯层上。

2.根据权利要求1所述的光探测器件,其中光探测层为单层石墨烯。

3.根据权利要求1所述的光探测器件,其中光探测层为不超过10层的石墨烯。

4.根据权利要求1、2或3所述的光探测器件,其中提供多个源极(60-63)区和漏极(64-67)区。

5.根据权利要求4所述的光探测器件,其中,所述多个源极区和漏极区包括金属叉指(60-67)。

6.根据权利要求5所述的光探测器件,其中,所述源极和漏极叉指(60-67)由具有不同功函数的不同金属制成。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的光探测器件,进一步包括栅极偏压VG被施加于其上的背栅极(10)。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的光探测器件,进一步包括,

栅极介电层(40),沉积于所述石墨烯层(14,38)上;以及

分离栅极(42,44),沉积于所述栅极介电层的顶部,用于跨所述石墨烯层施加电场。

9.根据前述权利要求中的任一项所述的光探测器件,进一步包括:

光波导,形成所述衬底的一部分。

10.根据权利要求1-8所述的光探测器件,进一步包括:

光波导,嵌入所述栅极氧化物层中且在所述石墨烯之下。

11.根据权利要求9或10所述的光探测器件,其中所述光波导为低损耗材料。

12.根据权利要求9、10或11所述的光探测器件,其中所述光波导选自于由硅、氮化硅以及氮氧化物组成的组。

13.一种光探测器阵列,包括多个根据前述权利要求中的任一项所述的光探测器件。

14.一种制作光探测器件的方法,包括:

a.提供衬底(10,34);

b.将栅极氧化物层(12)沉积于所述衬底上;

c.将石墨烯的沟道层(14,38)沉积于所述栅极氧化物层上;以及

d.在所述石墨烯层上构图形成源极接触区和漏极接触区(6,8,30,32,60-67)。

15.根据权利要求14所述的方法,其中,沉积单层石墨烯作为所述沟道层。

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