[发明专利]X射线检查装置和方法

权利要求书

1.一种X射线检查装置，包括：

-X射线源(2)，其用于在围绕成像区域(5)旋转的同时发射X射线辐射的X射线射束(4)，

-X射线探测器(6)，其具有多个探测器元(61)，用于探测由所述X射线源(2)发射的并已通过所述成像区域(5)的X射线辐射并且用于输出探测信号，

-源控制单元(10)，其用于在探测时段期间对X射线通量进行调制，在探测时段的开始时以避免所述X射线探测器(6)在直接X射线射束下饱和的X射线通量水平开始，并且之后增加所述X射线通量，

-探测控制单元(11)，其用于评估所述探测信号，所述探测控制单元(11)包括：

i)饱和探测单元(14a-14n)，其用于在探测时段期间探测在预定探测器元(61)和/或探测器元组处的饱和，

ii)探测停止单元(15a-15n)，其用于在所述探测时段的剩余时间内停止在已饱和的探测器元(61)或探测器元组处对X射线辐射的探测，以及

iii)时间测量单元(16a-16n)，其用于获得指示所述探测时段的有效时间部分的时间信息，在该有效时间部分期间，已在未饱和的情况下探测了X射线辐射，以及

-信号处理装置(12)，其用于基于所述探测信号重建X射线图像，其中，利用所述时间信息对探测时段期间由于饱和而停止在其位置处对X射线辐射的探测的探测器元(61)和/或探测器元组的探测信号进行校正。

2.根据权利要求1所述的X射线检查装置，

其中，所述源控制单元(10)适于以这样的方式对所述X射线通量进行调制，该方式使得所述X射线通量在探测时段期间随着时间持续增加。

3.根据权利要求1所述的X射线检查装置，

其中，所述源控制单元(10)适于根据锯齿状函数对所述X射线源(2)的所述X射线通量进行调制。

4.根据权利要求1所述的X射线检查装置，

其中，所述X射线探测器(6)是光子计数X射线探测器。

5.根据权利要求1所述的X射线检查装置，

其中，所述探测控制单元(11)包括针对多个个体探测器元(61a-61n)和/或探测器元组，特别是针对在所述X射线探测器(6)的外围处的个体探测器元和/或探测器元组的多个探测控制子单元(11a-11n)。

6.根据权利要求1所述的X射线检查装置，

其中，所述探测控制单元(11)包括针对每个探测器元(61)的探测控制子单元(11a-11n)。

7.根据权利要求1所述的X射线检查装置，

其中，所述饱和探测单元(14a)包括电流测量单元(14a1)，用于在探测器元或探测器元组的输出处测量探测器电流，特别是平均探测器电流，并且所述饱和探测单元(14a)包括比较器(14a2)，用于将所述探测器电流与指示饱和的参考电流进行比较。

8.根据权利要求1所述的X射线检查装置，

其中，所述探测停止单元(15a-15n)适于记录和/或评估来自已饱和的探测器元(61)或探测器元组的探测信号。

9.根据权利要求1所述的X射线检查装置，

其中，所述信号处理装置(12)适于基于已知的通量调制函数、所测量的探测信号部分和所获得的针对这一探测信号的所述时间信息，通过估计所述探测信号的在所述探测时段中未探测X射线辐射的剩余时间内的缺失的探测信号部分，来对所述探测时段期间已停止在其位置处对所述X射线辐射的探测的探测器元(61)和/或探测器元组的探测信号进行校正。