[发明专利]用于测量片状材料或其它材料的雾度的装置和方法

权利要求书

1.一种方法，包括：

采用第一光 (108, 208, 308, 504, 604, 802)照射(902)材料(102, 202, 302)；

捕获(904)透射通过所述材料的第二光 (114-116, 214-216, 314-316, 804, 808, 814, 816, 822)的图像(400, 700)；

分析(908)所述图像的多个区(402-406, 702)；

基于分析所述多个区来确定(910)与所述材料相关联的一个或多个雾度测量结果；以及

存储并且输出(910)所述一个或多个雾度测量结果中的至少一个。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，分析所述图像的多个区包括：

计算所述图像的每个区中的像素值的总和，以为该区产生总的像素值。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，计算每个区中的所述像素值的总和包括对所述像素值应用加权因子并且计算加权后的像素值的总和。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，跨在所述图像的两个区之间的边界上的每个像素被部分地包括在那两个区中。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述图像的多个区包括：

第一区，其包括第一圆盘；

第二区，其包括(i) 环绕所述第一区的第一环形区或(ii) 大于并且包括所述第一圆盘的第二圆盘；以及

第三区，其包括(i) 环绕所述第二区的第二环形区或(ii) 大于并且包括所述第一和第二圆盘的第三圆盘。

6.一种装置，包括：

至少一个存储器(128)，其被配置成存储透射通过材料(102, 202, 302)的光 (114-116, 214-216, 314-316, 804, 808, 814, 816, 822)的图像(400, 700)；和

至少一个处理器(126)，其被配置成分析所述图像的多个区(402-406, 702)，并且基于分析所述多个区来确定与所述材料相关联的一个或多个雾度测量结果。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述至少一个处理器被进一步地配置成基于所述图像中的像素值动态地限定所述图像中的所述多个区。

8.根据权利要求6所述的装置，其中：

所述第一光包括多个光束(504, 604, 802)；

所述第二光的图像包括具有与所述光束中的不同的光束相关联的多个区 (702)的单个图像(700)；以及

其中所述至少一个处理器被进一步配置成将所述图像动态地分割成多个区域。

9.根据权利要求6所述的装置，其中，所述至少一个处理器被进一步配置成基于所述一个或多个雾度测量结果调整生产所述材料的系统的操作。

10.一种系统，包括：

图像检测器(118, 218, 318, 806, 812, 820, 826, 830)，其被配置成捕获透射通过材料(102, 202, 302)的光 (114-116, 214-216, 314-316, 804, 808, 814, 816, 822)的图像(400, 700)；和

分析器(124, 224, 324)，其被配置成分析所述图像的多个区(402-406, 702)，并且基于分析所述多个区来确定与所述材料相关联的一个或多个雾度测量结果。