[实用新型]一种芯片测试探针

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于测试芯片的测试探针。

背景技术

一般情况下，电子产品集成芯片可以说是重中之重，恒量一个芯片的好坏就需要测试是否有缺陷。这就需测试探针的导电性能和机械性能比较优良，同时要求做到很小，因为现在的电子产品越来越小所求的芯片就越来越小。目前的探针是单头的且无法取下，因此使用很不方便。

实用新型内容

为克服现有技术的不足，提供一种双头探针，且可以任意取下、装配的芯片测试探针。

为实现上述目的，本实用新型通过如下技术方案加以实现。

一种芯片测试探针，包括针体1、探头2；所述针体外面裹有一层绝缘层；探头2卡接在针体1的两端上且可以任意取下、装配。所述针体1直径为0.05mm-0.08mm；绝缘层厚度为0.04mm-0.08mm；所述探头2的头部为三角形或锥形；所述探头2的头部为半圆形或是弧形。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：探头可以在针体上两头连接且可以任意取下，使用更灵活、方便。

附图说明

图1是本实用新型双头探头的形状示意图；

图2是本实用新型探头为半圆形的形状示意图。

具体实施方式

为便于理解本实用新型，特结合附图具体实施例加以说明，但是本实施例不应看作是对本实用新型的任何限制。

结合图1和图2，一种芯片测试探针，包括针体1、探头2；所述针体外面裹有一层绝缘层；探头2卡接在针体1的两端上且可以任意取下、装配。所述针体1直径为0.05mm-0.08mm；绝缘层厚度为0.04mm-0.08mm；所述探头2的头部为三角形或锥形；所述探头2的头部为半圆形或是弧形。

针体1由于在外面包裹了一层绝缘层，有较好的绝缘电阻和比较好的耐磨性能，主要是选择绝缘油墨，保证绝缘层能够承受10MΩ的绝缘电阻，可以保证在IC的测试中针体与针体1相互之间没有干扰，探针针体1和探头2最小可以做到0.05MM，采用的是韧性和导电性能比较好的钨合金丝，保证针体阻抗低于50mΩ。

在使用时，根据不同测试芯片的类型可更换不同的探测头型，如图2所示的顶部呈圆弧状的探测头，或顶部呈圆锥状的探测头等。