[实用新型]背光设备和阵列基板检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及阵列基板检测技术，尤其涉及一种背光设备和阵列基板检测装置。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay，TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等优点，在当前的平板显示器市场中占据了主导地位，广泛应用于各种领域，例如液晶电视、高清晰度数字电视、电脑、手机、PDA等。而在液晶显示器制造过程中，为保证生产的液晶显示器的质量，需要对生产的阵列基板进行检测和维修。

目前，在阵列基板制造过程中，对阵列基板的不良像素点进行检测和维修时，主要是利用背光设备来检测和确定阵列基板上的不良像素点，并利用激光发生器维修设备对不良像素点进行维修。图1为现有对阵列基板进行检测和维修的结构示意图。如图1所示，背光设备10位于待检测和维修的阵列基板30的下方，且背光设备10上方还设置有维修设备，其中，背光设备10包括马达(图中未示出)和背光灯102，马达可驱动背光灯102沿轴101在左右方向上移动，并可驱动轴101在前后方向移动，具体地，该背光设备10连接有背光灯控制器(图中未示出)，用于控制马达带动轴101和背光灯102运动，以使得背光灯102可移动到设定位置；维修设备包括移动台201，以及设置在移动台201上的激光发生器202和多个不同放大倍数的光学镜头203，且激光发生器202通过一个线性马达带动，当利用背光设备10检测到阵列基板30上有不良像素点后，可通过控制线性马达使激光发生器202移动到指定位置，使得维修人员可通过该光学镜头203观察不良像素点到底为何种不良，然后利用激光发生器202对相应的不良进行维修。现有对阵列基板上的不良像素点进行检测和维修的过程如下：

当阵列基板30上发现有需要待确认的不良像素点时，由控制器控制轴101和背光灯102运动，使背光灯102移动到需要待确认的不良像素点位置的下方，例如，对于坐标为(700，500)的不良像素点，需要给背光设备的控制器一个控制命令，由控制器控制马达带动轴101前后运动至坐标500处，并控制背光灯102沿轴101运动至坐标700处，从而使背光灯102移动到坐标(700，500)位置；同时，控制与激光发生器202连接的线性马达，也使激光发生器202运动到坐标(700，500)，此时，为背光灯102通电，背光灯102就会发出光线，通过从阵列基板30上方进行观察，即可确定该位置像素点是否为不良像素点，若是，则利用维修设备对该不良像素点进行维修，否则，检测下一个不良像素点。可以看出，通过上述背光设备可实现对阵列基板上的不良像素点的检测和确认，并可根据检测结果，利用维修设备对阵列基板上的不良像素点进行维修。

但是，现有阵列基板的不良像素点检测过程中，由于移动台上设置有维修像素的激光发射器，要求控制移动台运动的马达精度高、移动速度快，成本也较高，而为背光设备的定位要求精度较低，为节约成本，控制背光设备的马达精度低、移动速度慢，因此，控制背光设备运动的马达经常出现移动位置不精确无发准确判断不良，并且其响应速度也较慢，从而影响对阵列基板进行检测的效率；此外，若控制背光设备的马达的控制器发生故障，会导致背光设备撞碎玻璃基板而造成损失。

实用新型内容

本实用新型提供一种背光设备和阵列基板检测装置，以实现对阵列基板上不良像素点的检测和确认，背光设备结构简单，实现方便，可有效对阵列基板的不良像素点进行检测。

本实用新型提供一种背光设备，包括：背光灯，所述背光灯上设置有用于驱动背光灯移动的磁力装置。

上述的背光设备中，所述背光灯上还可设置有滚轮。

本实用新型提供一种阵列基板检测装置，包括移动台和背光设备，其中：

所述移动台上设置有第一磁力装置；

所述背光设备包括背光灯和设置在所述背光灯上的第二磁力装置；

所述移动台和背光设备之间设置有透光板，所述背光灯在所述第一磁力装置和第二磁力装置之间的磁力作用下抵触在所述透光板上。

上述的阵列基板检测装置中，所述背光灯上还设置有滚轮，所述背光灯通过所述滚轮抵触在所述透光板上。

上述的阵列基板检测装置中，还可包括检测平台，所述透光板通过支架固设在所述检测平台上。

上述的阵列基板检测装置中，还可包括维修设备，所述维修设备固设在所述移动台上；所述维修设备包括用于维修不良像素点的激光发生器，以及用于观察不良像素点的光学放大镜。

上述的阵列基板检测装置中，所述第一磁力装置可设置在所述激光发生器上。