[实用新型]背光设备和阵列基板检测装置有效
| 申请号： | 201020536158.8 | 申请日： | 2010-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN201845148U | 公开（公告）日： | 2011-05-25 |
| 发明（设计）人： | 卜云龙;赵海生 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 背光 设备 阵列 检测 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种背光设备，其特征在于，包括：背光灯，所述背光灯上设置有用于驱动背光灯移动的磁力装置。
2.根据权利要求1所述的背光设备，其特征在于，所述背光灯上还设置有滚轮。
3.一种阵列基板检测装置，其特征在于，包括移动台和背光设备，其中：
所述移动台上设置有第一磁力装置；
所述背光设备包括背光灯，以及设置在所述背光灯上的第二磁力装置；
所述移动台和背光设备之间设置有透光板，所述背光灯在所述第一磁力装置和第二磁力装置之间的磁力作用下抵触在所述透光板上。
4.根据权利要求3所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述背光灯上还设置有滚轮，所述背光灯通过所述滚轮抵触在所述透光板上。
5.根据权利要求3所述的阵列基板检测装置，其特征在于，还包括检测平台，所述透光板通过支架固设在所述检测平台上。
6.根据权利要求3、4或5所述的阵列基板检测装置，其特征在于，还包括维修设备，所述维修设备固设在所述移动台上；
所述维修设备包括用于维修不良像素点的激光发生器，以及用于观察不良像素点的光学放大镜。
7.根据权利要求6所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述第一磁力装置设置在所述激光发生器上。
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