[实用新型]新型化学机械抛光装置有效
| 申请号: | 201020510119.0 | 申请日: | 2010-08-30 |
| 公开(公告)号: | CN201824235U | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
| 发明(设计)人: | 路新春;梅赫赓;何永勇;雒建斌 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
| 主分类号: | B24B37/04 | 分类号: | B24B37/04;H01L21/304 |
| 代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 张文宝 |
| 地址: | 100084 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 新型 化学 机械抛光 装置 | ||
1.新型化学机械抛光装置,其特征在于,该装置的结构包括:由电机驱动旋转的抛光盘(102),固定于抛光盘(102)上方的抛光液输送口(104),位于抛光盘(102)上方的抛光头(101),以及安装于抛光头(101)下表面具有曲线轮廓的抛光垫(103);待抛光的硅片(105)安置在抛光盘(102)上,抛光头(101)及抛光垫(103)的尺寸不小于硅片(105)的直径;超声发生器与功率放大器、压电陶瓷、抛光头(101)依次连接,使抛光头(101)及抛光垫(103)产生高频振动。
2.根据权利要求1所述的新型化学机械抛光装置,其特征在于,所述抛光垫(103)外形轮廓需满足其中l(r)为以抛光垫(103)中心O为圆心,半径为r的圆与抛光垫(103)重合的圆弧长度,P(r)为与O点距离r处抛光垫(103)下压力,ωp为抛光盘(102)的旋转速度,vh为抛光头(101)的往复运动平均速度,c为常数,r0为临界半径,大于此半径处硅片上各点去除率相等,0≤r0≤50mm。
3.根据权利要求2所述的一种新型化学机械抛光装置,其特征在于,所述r0的优选范围为7mm≤r0≤15mm,P(r)为常量或与r相关的变量。
4.根据权利要求1所述的新型化学机械抛光装置,其特征在于,所述抛光头(101)振动的频率在1kHz到1MHz之间。
5.根据权利要求1所述的新型化学机械抛光装置,其特征在于,所述抛光头(101)振动的振幅在1um到50um之间。
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