[发明专利]气密陶瓷层结构与制造方法无效

专利信息
申请号: 201010623383.X 申请日: 2010-12-24
公开(公告)号: CN102176434A 公开(公告)日: 2011-09-07
发明(设计)人: 林庭炜 申请(专利权)人: 苏州达方电子有限公司;达方电子股份有限公司
主分类号: H01L23/04 分类号: H01L23/04;H01L23/08;H01L21/48;C04B35/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215011 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 气密 陶瓷 结构 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种气密陶瓷层结构,其特征在于包括:

结构体,由复数个互相堆叠的陶瓷基材板层所构成,该结构体具有中空部,该中空部用以容纳晶片;

至少一气密板层,设置于该复数个陶瓷基材板层的其中二者之间,且该气密板层的收缩率与该复数个陶瓷基材板层的收缩率相差0.2%~1.2%;以及

复数个导热柱,垂直贯穿该复数个陶瓷基材板层与该气密板层,该晶片所产生的热能经由该复数个导热柱对外排出。

2.根据权利要求1所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:每一个陶瓷基材板层为低温共烧陶瓷基材板层。

3.根据权利要求1所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:每一个陶瓷基材板层包括氧化铅、氧化铝与氧化硅,或上述至少二者的组合。

4.根据权利要求1所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:该至少一气密板层包括氧化铝、硅、碳酸钙、氧化镁、碳酸钾、氧化锆与氧化硼,或上述至少二者的组合。

5.根据权利要求4所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:该氧化铝的重量百分比至少为50%;或者该硅的重量百分比至少为25%;或者该碳酸钙与该氧化锆的重量百分比至少为5%;或者该氧化镁与该碳酸钾的重量百分比至少为1%;或者该氧化硼的重量百分比至多为5%。

6.根据权利要求1所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:该气密陶瓷层结构还包括盖体,该盖体藉由封合材料黏合于该结构体,使该中空部与外界空气隔绝。

7.一种气密陶瓷层的制造方法,其特征在于包括:

提供由复数个互相堆叠的陶瓷基材板层所构成的结构体,该结构体具有中空部,该中空部用以容纳晶片;

设置至少一气密板层于该复数个陶瓷基材板层的其中二者之间,且该气密板层的收缩率与该该复数个陶瓷基材板层的收缩率相差0.2%~1.2%;以及

提供垂直贯穿该复数个陶瓷基材板层与该气密板层的复数个导热柱,该晶片所产生的热能经由该复数个导热柱对外排出。

8.根据权利要求7所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:每一个陶瓷基材板层为低温共烧陶瓷基材板层。

9.根据权利要求7项所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:该制造方法还包括:

提供盖体,该盖体藉由封合材料黏合于该结构体,使该中空部与外界空气隔绝。

10.根据权利要求7所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:每一个基材板层包括氧化铅、氧化铝与氧化硅,或上述至少二者的组合。

11.根据权利要求7所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:该至少一气密板层包括氧化铝、硅、碳酸钙、氧化镁、碳酸钾、氧化锆与氧化硼,或上述至少二者的组合。

12.根据权利要求11所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:该氧化铝的重量百分比至少为50%;或者该硅的重量百分比至少为25%;或者该碳酸钙与该氧化锆的重量百分比至少为5%;或者该氧化镁与该碳酸钾的重量百分比至少为1%;或者该氧化硼的重量百分比至多为5%。

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