[发明专利]气密陶瓷层结构与制造方法无效
| 申请号: | 201010623383.X | 申请日: | 2010-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN102176434A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
| 发明(设计)人: | 林庭炜 | 申请(专利权)人: | 苏州达方电子有限公司;达方电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/04 | 分类号: | H01L23/04;H01L23/08;H01L21/48;C04B35/10 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 215011 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 气密 陶瓷 结构 制造 方法 | ||
1.一种气密陶瓷层结构,其特征在于包括:
结构体,由复数个互相堆叠的陶瓷基材板层所构成,该结构体具有中空部,该中空部用以容纳晶片;
至少一气密板层,设置于该复数个陶瓷基材板层的其中二者之间,且该气密板层的收缩率与该复数个陶瓷基材板层的收缩率相差0.2%~1.2%;以及
复数个导热柱,垂直贯穿该复数个陶瓷基材板层与该气密板层,该晶片所产生的热能经由该复数个导热柱对外排出。
2.根据权利要求1所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:每一个陶瓷基材板层为低温共烧陶瓷基材板层。
3.根据权利要求1所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:每一个陶瓷基材板层包括氧化铅、氧化铝与氧化硅,或上述至少二者的组合。
4.根据权利要求1所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:该至少一气密板层包括氧化铝、硅、碳酸钙、氧化镁、碳酸钾、氧化锆与氧化硼,或上述至少二者的组合。
5.根据权利要求4所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:该氧化铝的重量百分比至少为50%;或者该硅的重量百分比至少为25%;或者该碳酸钙与该氧化锆的重量百分比至少为5%;或者该氧化镁与该碳酸钾的重量百分比至少为1%;或者该氧化硼的重量百分比至多为5%。
6.根据权利要求1所述的气密陶瓷层结构,其特征在于:该气密陶瓷层结构还包括盖体,该盖体藉由封合材料黏合于该结构体,使该中空部与外界空气隔绝。
7.一种气密陶瓷层的制造方法,其特征在于包括:
提供由复数个互相堆叠的陶瓷基材板层所构成的结构体,该结构体具有中空部,该中空部用以容纳晶片;
设置至少一气密板层于该复数个陶瓷基材板层的其中二者之间,且该气密板层的收缩率与该该复数个陶瓷基材板层的收缩率相差0.2%~1.2%;以及
提供垂直贯穿该复数个陶瓷基材板层与该气密板层的复数个导热柱,该晶片所产生的热能经由该复数个导热柱对外排出。
8.根据权利要求7所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:每一个陶瓷基材板层为低温共烧陶瓷基材板层。
9.根据权利要求7项所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:该制造方法还包括:
提供盖体,该盖体藉由封合材料黏合于该结构体,使该中空部与外界空气隔绝。
10.根据权利要求7所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:每一个基材板层包括氧化铅、氧化铝与氧化硅,或上述至少二者的组合。
11.根据权利要求7所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:该至少一气密板层包括氧化铝、硅、碳酸钙、氧化镁、碳酸钾、氧化锆与氧化硼,或上述至少二者的组合。
12.根据权利要求11所述的气密陶瓷层的制造方法,其特征在于:该氧化铝的重量百分比至少为50%;或者该硅的重量百分比至少为25%;或者该碳酸钙与该氧化锆的重量百分比至少为5%;或者该氧化镁与该碳酸钾的重量百分比至少为1%;或者该氧化硼的重量百分比至多为5%。
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