[发明专利]一种大功率GaN基发光二极管及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201010622189.X 申请日: 2010-12-27
公开(公告)号: CN102544048A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 吴东海;李志翔 申请(专利权)人: 同方光电科技有限公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 大功率 gan 发光二极管 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种大功率GaN基发光二极管,它包括基板(21)以及置于基板(21)上方的依次由N半导体层(221)、有源发光层(222)和P型半导体层(223)相叠加组成的发光结构,发光结构上方为透明导电层(23),透明导电层(23)上的一端置有P型电极(242),N型半导体层(221)上、与P型电极(242)相对的另一端置有N型电极(241)而形成发光二极管芯片(2),其特征在于,所述发光二极管芯片(2)通过分割道(33)分隔为至少两个以上小发光二极管(3),各小发光二极管(3)之间通过金属电极(34)连接,各小发光二极管(3)之间相接处置有避免同一小发光二极管(3)的P、N电极之间短路的绝缘层(30)。

2.根据权利要求1所述的大功率GaN基发光二极管,其特征在于,所述各小发光二极管(3)之间采用串联、并联或者串联并联相结合的连接方式。

3.根据权利要求1或2所述的大功率GaN基发光二极管,其特征在于,所述分割道(33)的深度大于或者等于为获得N型欧姆接触区而暴露出N-GaN区时的刻蚀深度,分隔道(33)的宽度大于10μm。

4.根据权利要求3所述的大功率GaN基发光二极管,其特征在于,所述小发光二极管(3)的形状为正方形、长方形或者平行四边形,小发光二极管(3)的面积大于100μm×100μm。

5.根据权利要求4所述的大功率GaN基发光二极管,其特征在于,所述绝缘层(30)采用SiO2或者SiN材料。

6.一种大功率GaN基发光二极管的制作方法,其步骤为:

1)在基板(21)上用金属有机化合物化学气相淀积技术分别外延生长N型半导体层(221)、有源发光层(222)以及P型半导体层(223),形成发光二极管芯片(2);

2)利用光刻和干法刻蚀技术刻蚀出各小发光二极管(3)的分隔道(33);

3)利用光刻和干法刻蚀技术刻蚀出N型接触GaN区;

4)利用光刻和蒸发的方法在P型半导体层(223)上制备透明导电层(23);

5)利用光刻和沉积的方法在分隔道(33)上各小发光二极管(3)相接的地方制备绝缘层(30);

6)利用光刻和蒸发的方法制备发光二极管芯片(2)的P型电极(242)、N型电极(241)及各小发光二极管(3)的金属电极(34);

7)将基板(21)从背面减薄;

8)最后将发光二极管芯片(2)沿设计好的分割道(33)分割成单个管芯。

7.根据权利要求6所述的制作方法,其特征在于,所述基板(21)的厚度从背面减薄到70μm到200μm之间。

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