[发明专利]一种大功率GaN基发光二极管及其制作方法无效
| 申请号: | 201010622189.X | 申请日: | 2010-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN102544048A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
| 发明(设计)人: | 吴东海;李志翔 | 申请(专利权)人: | 同方光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L33/00 |
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| 地址: | 100083 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 大功率 gan 发光二极管 及其 制作方法 | ||
1.一种大功率GaN基发光二极管,它包括基板(21)以及置于基板(21)上方的依次由N半导体层(221)、有源发光层(222)和P型半导体层(223)相叠加组成的发光结构,发光结构上方为透明导电层(23),透明导电层(23)上的一端置有P型电极(242),N型半导体层(221)上、与P型电极(242)相对的另一端置有N型电极(241)而形成发光二极管芯片(2),其特征在于,所述发光二极管芯片(2)通过分割道(33)分隔为至少两个以上小发光二极管(3),各小发光二极管(3)之间通过金属电极(34)连接,各小发光二极管(3)之间相接处置有避免同一小发光二极管(3)的P、N电极之间短路的绝缘层(30)。
2.根据权利要求1所述的大功率GaN基发光二极管,其特征在于,所述各小发光二极管(3)之间采用串联、并联或者串联并联相结合的连接方式。
3.根据权利要求1或2所述的大功率GaN基发光二极管,其特征在于,所述分割道(33)的深度大于或者等于为获得N型欧姆接触区而暴露出N-GaN区时的刻蚀深度,分隔道(33)的宽度大于10μm。
4.根据权利要求3所述的大功率GaN基发光二极管,其特征在于,所述小发光二极管(3)的形状为正方形、长方形或者平行四边形,小发光二极管(3)的面积大于100μm×100μm。
5.根据权利要求4所述的大功率GaN基发光二极管,其特征在于,所述绝缘层(30)采用SiO2或者SiN材料。
6.一种大功率GaN基发光二极管的制作方法,其步骤为:
1)在基板(21)上用金属有机化合物化学气相淀积技术分别外延生长N型半导体层(221)、有源发光层(222)以及P型半导体层(223),形成发光二极管芯片(2);
2)利用光刻和干法刻蚀技术刻蚀出各小发光二极管(3)的分隔道(33);
3)利用光刻和干法刻蚀技术刻蚀出N型接触GaN区;
4)利用光刻和蒸发的方法在P型半导体层(223)上制备透明导电层(23);
5)利用光刻和沉积的方法在分隔道(33)上各小发光二极管(3)相接的地方制备绝缘层(30);
6)利用光刻和蒸发的方法制备发光二极管芯片(2)的P型电极(242)、N型电极(241)及各小发光二极管(3)的金属电极(34);
7)将基板(21)从背面减薄;
8)最后将发光二极管芯片(2)沿设计好的分割道(33)分割成单个管芯。
7.根据权利要求6所述的制作方法,其特征在于,所述基板(21)的厚度从背面减薄到70μm到200μm之间。
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





