[发明专利]液晶显示装置的检测装置及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体集成电路技术领域，更具体地说，涉及一种液晶显示装置的检测装置及其测试方法。

背景技术

液晶显示装置具有由包括矩阵状的显示像素构成的有效显示部分。该有效显示部分包括沿显示像素的行方向延伸的多条扫描线、沿显示像素的列方向延伸的多条数据线(也称信号线)、设置在这些扫描线与数据线的交叉部位附近的开关元件以及与所述开关元件连接的像素电极等。这些扫描线及数据线引出到有效显示部分的外围部分，通过在所述外围部分输入测试信号来检测有效显示部分所显示出来画面的品质。

现有技术中一般均在所述外围部分设置检测装置Shorting bar(短路棒)，在所述短路棒上输入测试信号并通过相应的元件传输到有效显示部分的扫描线及数据线上，进而检测有效显示部分所显示出来画面的品质。

参考图1，图1为现有技术中一种液晶显示装置检测装置的结构示意图。图中101、102、103、109表示四根短路棒，104、105、106、110表示分别连接短路棒101、102、103、109的测试端子，通过在各测试端子上输入测试信号进而由短路棒传输到数据线及扫描线上。D1、D2、D3、D4、D5、D6表示六条数据线，C1、C2、C3、C4、C5、C6表示六条传输线，短路棒101通过过孔107和传输线C1相连，传输线C1再通过薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)开关108和数据线D1相连，当在测试端子104上输入测试信号时，该测试信号经由短路棒101、过孔107、传输线C1、薄膜晶体管开关108传输至数据线D1。同理，其他的数据线也是通过其相应的测试端子、短路棒、过孔、传输线及薄膜晶体管开关而得到测试信号的。图中G1、G2、G3表示三条扫描线，短路棒109通过传输线C7与薄膜晶体管开关111相连，薄膜晶体管开关111依次通过传输线C8、过孔112与扫描线G3相连，当在测试端子110上输入测试信号时，该测试信号经由短路棒109、传输线C7、薄膜晶体管开关111、传输线C8、过孔112传输至扫描线G3。同理，其他的扫描线也是通过其相应的测试端子、短路棒、传输线、薄膜晶体管开关及过孔而得到测试信号的。

在液晶显示装置的制造工艺过程中，取放玻璃、取向膜涂布以及取向摩擦等工艺流程中，常会由于静电过大的原因造成传输线与短路棒连接的过孔处的导电膜(材料为ITO------Indium Tin Oxides，或，IZO------Indium ZincOxides)烧毁，进而在对液晶显示装置进行测试时，将会出现数据线方向或者扫描线方向的线缺陷，影响最终的测试结果。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种液晶显示装置的检测装置及其测试方法，该液晶显示装置的检测装置中消除了过孔，进而在测试过程中可避免因过孔对测试结果造成的影响。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种液晶显示装置的检测装置，所述液晶显示装置包括：多条垂直相交的扫描线和数据线，以及多条扫描线和数据线限定的多个像素单元，所述像素单元包括红色像素单元、绿色像素单元和蓝色像素单元；

所述检测装置包括：第一短路棒、第一控制线、第二控制线、第三控制线、多条传输线和多个薄膜晶体管开关元件；其中：

所述多个所述薄膜晶体管开关元件的栅极分别设置在所述第一控制线、第二控制线、第三控制线上；

所述多条数据线分别通过到薄膜晶体管开关元件的漏极连接到第一控制线、第二控制线和第三控制线上，其中控制蓝色像素单元的数据线都连接到第一控制线上，控制红色像素单元的数据线都连接到第二控制线上，控制绿色像素单元的数据线都连接到第三控制线上；

所述多个薄膜晶体管开关元件的源极分别通过多条传输线连接到第一短路棒上。

可选地，相邻三个像素单元的数据线所连接的三个薄膜晶体管开关的源极通过同一根传输线连接到第一短路棒上。

可选地，所述相邻的三个像素单元为相邻的红色像素单元、绿色像素单元和蓝色像素单元。

可选地，还包括扫描线检测装置，所述扫描线检测装置包括：第二短路棒、第四控制线、多条传输线和多个开关元件；其中：

所述多个所述薄膜晶体管开关元件的栅极分别设置在所述第四控制线上；

所述多条扫描线分别通过薄膜晶体管开关元件的漏极连接到第四控制线上，所述多个薄膜晶体管开关元件的源极分别通过多条传输线连接到第二短路棒上。