[发明专利]一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法和装置有效

专利信息
申请号: 201010616495.2 申请日: 2010-12-30
公开(公告)号: CN102545778A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 王瑞毅;任振东;陈仲平 申请(专利权)人: 苏州银河龙芯科技有限公司
主分类号: H03B5/04 分类号: H03B5/04
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明;王宝筠
地址: 215123 江苏省苏州市苏州工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 时钟 晶体振荡器 闭环 温度 补偿 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿方法,其特征在于,包括以下步骤:

获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为:Pt=(a*T+b);其中,a、b为常数;所述预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线,在每段折线内为直线;

在温度T时,读取32768Hz石英晶体产生的预定时间闸门内的所述预设高频频率信号的高频脉冲个数Pt1;

在温度T时,由Pt=(a*T+b)计算所述预设高频频率信号在所述预定时间闸门内的理论高频脉冲个数Pt2;

比较读取的高频脉冲个数Pt1和对应的理论高频脉冲个数Pt2;

当读取的高频脉冲个数Pt1大于理论高频脉冲个数Pt2,则调节石英32768Hz晶体产生的秒脉冲的宽度变窄;反之调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变宽;直到读取的高频脉冲个数Pt1与理论高频脉冲个数Pt2相等。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述温度T由温度传感器获得,温度传感器获得的AD采集值NAD与温度T成分段线性关系,表达式为:T=Kn*NAD;其中,Kn为第n段的比例系数。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式,具体为:

在第一温度T1时,获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为P1;在第二温度T2时,获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为P2;

则该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为:Pt=(a*T+b);其中,a=(P1-P2)/[M*(T1-T2)];b=(P1T1-P2T2)/[M(T1-T2)]。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄或变宽,具体为:通过调节32768Hz石英晶体的时钟分频系数来调节秒脉冲的宽度变窄或变宽。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设高频频率信号的频率大于或等于1MHz。

6.一种时钟晶体振荡器闭环温度补偿装置,其特征在于,包括以下单元:

预设高频频率信号的表达式获取单元,用于获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为:Pt=(a*T+b);其中,a、b为常数;所述预设高频频率信号的频率温度特性曲线为分段折线,在每段折线内为直线;

高频脉冲个数读取单元,用于在温度T时,读取32768Hz石英晶体产生的预定时间闸门内的所述预设高频频率信号的高频脉冲个数Pt1;

计算单元,用于在温度T时,由Pt=(a*T+b)计算所述预设高频频率信号在所述预定时间闸门内的理论高频脉冲个数Pt2;

比较单元,用于比较读取的高频脉冲个数Pt1和对应的理论高频脉冲个数Pt2;

秒脉冲调节单元,当比较单元的比较结果为读取的高频脉冲个数Pt1大于理论高频脉冲个数Pt2时,用于调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变窄;反之用于调节32768Hz石英晶体产生的秒脉冲的宽度变宽;直到调节到读取的高频脉冲个数Pt1与理论高频脉冲个数Pt2相等。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括温度采集单元,温度采集单元的AD采集值NAD与温度T成分段线性关系,表达式为:T=Kn*NAD;其中,Kn为第n段的比例系数。

8.根据权利要求6或7所述的装置,其特征在于,所述预设高频频率信号的表达式获取单元,用于获得预设高频频率信号在每段折线内单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式,具体为:

在第一温度T1时,获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为P1;在第二温度T2时,获得M个标准秒脉冲时间内所述高频频率信号的高频脉冲个数为P2;

则该预设高频频率信号单位时间内的温度T与高频脉冲个数Pt的表达式为:Pt=(a*T+b);其中,a=(P1-P2)/[M*(T1-T2)];b=(P1T1-P2T2)/[M(T1-T2)]。

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