[发明专利]λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及激光应用技术领域，特别涉及一种λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法。

背景技术

电光开关是激光器中非常重要的一个器件，它的应用是激光发展史上的一个重要突破，它使激光的单色亮度提高了好几个数量级，同时也推动了激光测距、激光雷达、高速全息照相以及激光加工等应用技术的发展。其原理是利用外电场的作用使晶体的折射率发生周期性的改变：单轴晶体在电场的作用下周期性的变为双轴晶体，或双轴晶体的折射率椭球的形状和方位发生周期性的改变。使通过晶体的光发生双折射来改变偏振光的偏振态，与偏振片一起使用便可以实现对光的调制。电光开关技术通过在激光器的振荡过程中改变谐振腔的Q值，以产生高峰值功率、窄脉冲宽度的激光。与声光开关相比，λ/2电压电光开关因具有效率高、开关速度快、输出激光脉宽窄和峰值功率高等优点，被广泛应用于固体激光器。

如图1所示，传统的测量电光开关120的动态透过率的方法是利用能量计测量进入起偏器110之前的入射光能量b和从检偏器130出射的出射光的能量a，则动态透过率即a/b*100％。然而，由于电光开关是在激光光源100下使用，激光光源100的脉冲能量起伏将引起相邻两发激光的能量存在误差，则测量出的a和b也必然存在误差，导致动态透过率的测量结果存在较大误差。同时，这种方法不仅对单脉冲光源的稳定性要求较高，还需要使用纳秒同步机准确同步测量激光和电光开关的工作时间。如果电光开关是用在激光放大器中，测试光里还会夹杂着泵浦光，也将导致测试结果不准确。

因而现有技术还有待改进和提高。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法，能减少由激光光源脉冲能量起伏引起的误差。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统，包括激光光源、起偏器、检偏器、偏振分光装置、λ/2波片、扩束装置、示波器和数据处理模块；在使用所述测试系统时，λ/2电压电光开关放置在起偏器和检偏器之间，示波器的波形探头沿着检偏器的出射光方向放置，所述检偏器和起偏器是正交放置的，所述激光光源输出的激光依次通过所述偏振分光装置、λ/2波片、扩束装置、起偏器、λ/2电压电光开关及检偏器后进入示波器的波形探头，所述示波器对波形探头接收的激光进行处理，得到峰-峰值，所述数据处理模块根据峰-峰值计算出所述λ/2电压电光开关的动态透过率。

所述的λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统，其中：所述起偏器为起偏偏振片，所述检偏器为检偏偏振片；所述起偏偏振片和检偏偏振片正交放置。

所述的λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统，其中：所述偏振分光装置为偏振分光棱镜。

所述的λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统，其中：所述偏振分光装置为偏振分光片。

所述的λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统，其中：所述扩束装置为可变扩束镜组。

一种λ/2电压电光开关的动态透过率的测试方法，包括：

开启激光光源，使激光光源输出连续稳定的激光；

使所述激光通过偏振分光装置，将所述激光变为线偏振光；

使所述线偏振光通过λ/2波片；

使通过所述λ/2波片的激光通过扩束装置；

使通过所述扩束装置之后的激光通过起偏器；

使通过所述起偏器的激光通过λ/2电压电光开关；

使通过所述λ/2电压电光开关的激光通过检偏器，检偏器和起偏器是正交放置的；

使通过所述检偏器的激光进入示波器的波形探头；

所述示波器对波形探头接收的激光进行处理，得到峰-峰值；

所述数据处理模块根据(P1-P2)/P1*100％计算λ/2电压电光开关的动态透过率，其中，P1为激光的最大值，P2为激光的最小值。

本发明提供的一种λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统和测试方法，只需要用示波器的波形探头在λ/2电压电光开关后的检偏器后测量一次即可，与传统的测量方法相比，减少了测量次数，从而减少了由激光光源脉冲能量起伏引起的误差。

附图说明

图1为传统的测量电光开关的动态透过率的方法的示意图；

图2为本发明实施例提供的λ/2电压电光开关的动态透过率的测试系统示意图。

具体实施方式