[发明专利]一种双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置

权利要求书

1.一种双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，它包括中空的金属外壳(5)、设置在金属外壳两相对端的入射窗(6)和出射窗(7)、探测部件以及光电探测器(8)，所述探测部件设置在金属外壳(5)、入射窗(6)和出射窗(7)围成的空腔(10)内，所述光电探测器(8)通过金属外壳上设置的孔与空腔(10)连通，其特征在于：所述探测部件包括无机薄膜闪烁体(2)和有机薄膜闪烁体(3)，所述无机薄膜闪烁体(2)设置在入射窗(6)内侧，所述有机薄膜闪烁体(3)设置在出射窗(7)内侧。

2.根据权利要求1所述的双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，其特征在于：所述无机薄膜闪烁体(2)与入射窗(6)之间设置有吸收片(1)。

3.根据权利要求1或2所述的双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，其特征在于：所述有机薄膜闪烁体(3)与出射窗(7)之间设置有背散射片(4)。

4.根权利要求3所述的双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，其特征在于：所述无机薄膜闪烁体(2)为掺杂氧化锌晶体，其厚度为0.1～0.5mm。

5.根据权利要求4所述的双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，其特征在于：所述掺杂氧化锌晶体为ZnO:In或ZnO:Ga。

6.根据权利要求3所述的双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，其特征在于：所述有机薄膜闪烁体(3)为塑料闪烁体，其厚度为0.05～0.5mm。

7.根据权利要求3所述的双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，其特征在于：所述吸收片(1)为铁、铜、镍、锌或银金属薄膜材料，其厚度为10～200μm。

8.根据权利要求3所述的双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，其特征在于：所述背散射片(4)为银膜，其厚度为50～200μm。

9.根据权利要求3所述的双闪烁体补偿型脉冲X射线探测装置，其特征在于：所述光电探测器(8)为半导体型光电探测器、光电倍增管或光电管。