[发明专利]测试覆盖率的评估系统及其方法无效
| 申请号： | 201010587161.7 | 申请日： | 2010-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN102567551A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 唐飞 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区谱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 杨林洁 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 覆盖率 评估 系统 及其 方法 | ||
1. 一种测试覆盖率的评估系统，其特征在于，包括覆盖率评估数据库及数据录入界面，被评估对象的相关信息通过数据录入界面而被录入覆盖率评估数据库，通过数据录入界面可以对被评估对象的相关信息进行修改；所述评估系统对被评估对象的相关信息进行解析，以获取对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容同样存储到所述覆盖率评估数据库中，所述覆盖率评估数据库设有与被评估对象相匹配的评估规则。
2. 如权利要求1所述的测试覆盖率的评估系统，其特征在于：所述数据录入界面对应于不同的数据来源部门，被评估对象的相关信息由这些数据来源部门提供。
3. 如权利要求1所述的测试覆盖率的评估系统，其特征在于：被评估对象的相关信息包括逻辑和物理设计信息，所述逻辑和物理设计信息包括：材料清单、电路板或芯片网表信息、电路板布局布线信息、边界扫描器件信息及非边界扫描器件信息。
4. 如权利要求1所述的测试覆盖率的评估系统，其特征在于：所述评估系统包括检验界面，所述检验界面用以检查所录入的被评估对象的相关信息是否完备或正确。
5. 如权利要求1所述的测试覆盖率的评估系统，其特征在于：所述评估系统包括覆盖率界面，所述覆盖率界面用以定位被评估对象的设计缺陷。
6. 一种测试被评估对象的覆盖率的方法，其包括如下步骤：
S1，建立一个覆盖率评估数据库；
S2，提供数据录入界面，供用户向覆盖率评估数据库中录入被评估对象的相关信息；
S3，将上述被评估对象的相关信息进行解析，获取其中对测试被评估对象的覆盖率有帮助的内容，并将该内容存储到之前已经建立好的覆盖率评估数据库中；
S4，制定评估规则；
S5，启动评估操作，得到被评估对象的覆盖率报告。
7. 如权利要求6所述的方法，其特征在于：步骤S5之前还包括通过检验界面对被评估对象的相关信息进行检查的步骤，其中该步骤检查所录入的被评估对象的相关信息是否完备或正确。
8. 如权利要求6所述的方法，其特征在于：步骤S2中，所述数据录入界面对应于多个用户，在被评估对象的设计过程中，用户可以通过数据录入界面不断的录入已经设计完备的相关信息及修改之前已经录入的相关信息。
9. 如权利要求6所述的方法，其特征在于：步骤S2中被评估对象的相关信息包括逻辑和物理设计信息，所述逻辑和物理设计信息包括：材料清单、电路板或芯片网表信息、电路板布局布线信息、边界扫描器件信息及非边界扫描器件信息。
10. 如权利要求6所述的方法，其特征在于：步骤S5之后还包括通过覆盖率界面对被评估对象的设计缺陷进行定位的步骤。
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