[发明专利]有机模板掺杂制备孔隙率可调控纳米多孔减反增透薄膜的方法无效
| 申请号: | 201010571940.8 | 申请日: | 2010-12-03 |
| 公开(公告)号: | CN102153290A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
| 发明(设计)人: | 黄富强;李德增 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号: | C03C17/23 | 分类号: | C03C17/23 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 有机 模板 掺杂 制备 孔隙率 调控 纳米 多孔 减反增透 薄膜 方法 | ||
1.有机模板掺杂制备孔隙率可调控纳米多孔减反增透薄膜的方法,其特征在于采用溶胶-凝胶技术,用有机模板进行复合掺杂,通过不同条件热处理选择性地去除有机模板,形成纳米多孔减反增透薄膜结构,并可进行孔隙率调节;具体步骤是:
(1)有机模板的掺杂:
将分子量为1000-50,000的有机模板加入前驱溶胶中,在室温条件下连续搅拌,得到掺杂的复合前驱溶胶;
(2)有机模板掺杂的薄膜制备:
将清洗后、干净的基片通过提拉镀膜技术竖直、匀速或旋涂镀膜技术从步骤1制备的掺杂的复合前驱溶胶中根据不同需要制备不同层数的薄膜;
(3)有机模板的去除:
将制备的掺杂薄膜置于烘箱中,在100-800℃的条件固化2小时以上,自然冷却后即可得到孔隙率可调节的纳米多孔减反增透薄膜。
2.按权利要求1所述的方法,其特征在于选用的基片为普通玻璃、石英玻璃或透明导电材料。
3.按权利要求1所述的方法,其特征在于前驱溶胶为TiO2,SiO2,ZrO2或ZnO。
4.按权利要求1所述的方法,其特征在于提拉镀膜的速度控制在10-200mm/min范围内,旋涂镀膜的速度控制在1000-20000r/min范围内。
5.按权利要求1所述的方法,其特征在于分子量控制在1000-50000范围内的有机模板为聚乙烯吡咯烷酮或聚乙二醇。
6.按权利要求1所述的方法,其特征在于薄膜厚度控制在20-2500nm范围内的薄膜折射率控制在1.10-2.50范围内,消光系数控制在0.0-0.1范围内。
7.按权利要求1或6所述的方法,其特征在于制备的薄膜层厚度h与提拉速度V成正比,介于hαV1/2和hαV3/2之间。
8.按权利要求1所述的方法,其特征在于所制备的SiO2多孔薄膜在太阳光550nm处透过率可达99.4%,反射率低于0.9%,现实良好的宽带增透性。
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