[发明专利]基于边界扫描的可编程逻辑器件自动测试系统与方法有效

专利信息
申请号: 201010545055.2 申请日: 2010-11-16
公开(公告)号: CN101995546A 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: 王伶俐;王颖;周学功;童家榕;包杰 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R31/3183
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 边界 扫描 可编程 逻辑 器件 自动 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.基于边界扫描的可编程逻辑器件自动测试系统,其特征在于包括硬件和软件两大部分:硬件部分包括用于运行自动测试软件的计算机,以及待测的可编程芯片测试板;软件部分包括编译软件、测试向量生成器、串口控制软件以及将它们整合在一起的回归测试系统;其中:

所述编译软件,与待测的芯片相配套,它用于将用户的项目工程文件编译成芯片配置文件,该文件下载至FPGA芯片,将芯片配置成用户所需要的功能;

所述测试向量生成器,通过在命令行环境下调用仿真软件,对用户的待测设计进行仿真,并将仿真后生成的波形记录文件转换成所需要的测试向量格式;            

所述串口控制软件,使用Windows XP操作系统提供的通用链接库控制串口,使其按一定格式发送和接收数据;相应于JTAG的4个TAP端口:TCK、TMS、TDI、TDO,串口输出的数据共有8位,其对应关系如下:

串口端口B7B6B5B4B3B2B1B0TAP端口TDO  TMS TCKTDI 

所述回归测试系统,使用平台无关的TCL脚本语言实现,它无缝地调用上述所有测试子系统;通过建立回归测试策略,实现用户进行多版本的系统测试,以确认各个版本的修改没有引入新的错误或导致其他代码产生错误。

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