[发明专利]粒子传感器有效
| 申请号: | 201010541292.1 | 申请日: | 2010-11-05 |
| 公开(公告)号: | CN102072850A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
| 发明(设计)人: | A·克劳斯;T·富克斯 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李少丹;李家麟 |
| 地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 粒子 传感器 | ||
1.一种用于检测气流中的粒子的粒子传感器,包括:
-膜片(1),
-膜片加热装置(2),和
-至少两个设置在所述膜片(1)上的用于测量导电性的测量电极(3,4),
其中所述膜片(1)具有小于或等于50μm的厚度(d)。
2.根据权利要求1所述的粒子传感器,其特征在于,所述膜片(1)包含碳化硅。
3.根据权利要求1或2所述的粒子传感器,其特征在于,所述膜片加热装置(2)
-集成到所述膜片(1)中,或者
-构造在膜片表面上。
4.根据权利要求1至3之一所述的粒子传感器,其特征在于,膜片表面催化粒子、尤其是炭黑粒子的分解和/或燃烧。
5.根据权利要求1至4之一所述的粒子传感器,其特征在于,该传感器具有两个或者更多个单元,它们分别具有至少两个设置在膜片(1)上的用于测量导电性的测量电极(3,4)和膜片加热装置(2)。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,各单元的膜片表面具有不同的催化活性。
7.一种用于运行根据权利要求1至6之一所述的粒子传感器的方法,其中
-在粒子积聚模式中积聚粒子,以及
-在粒子测量模式中通过导电性测量和/或量热法测量来确定积聚的粒子量。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,进行与温度分布曲线相关的导电性测量和/或导热性测量。
9.根据权利要求7或8所述的方法,其特征在于,所积聚的粒子量间接地从不同于要确定的粒子的、其他的积聚的材料的导电性测量和/或导热性测量的结果中确定。
10.根据权利要求7至9之一所述的利用根据权利要求5或6所述的粒子传感器的方法,其特征在于,一个单元在粒子测量模式中,而一个或者多个另外的单元在粒子积聚模式中。
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