[发明专利]盘检查装置有效
| 申请号: | 201010299456.4 | 申请日: | 2010-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN102347049A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
| 发明(设计)人: | 久保充正;亲松刚 | 申请(专利权)人: | 蒂雅克股份有限公司 |
| 主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 谢丽娜;关兆辉 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 检查 装置 | ||
技术领域
本发明涉及用于检查盘的盘检查装置。
背景技术
一直以来,能够通过照射激光进行数据的记录重放的光盘等记录介质盘广为人知。在这种盘中,会因经年劣化等导致数据的记录品质劣化,并根据情况而存在难以重放数据、信息损失等情况。在用盘来记录保管各种信息的盘存档(Disc Archive)中,这样的因盘的劣化而引起的信息损失成为很大的问题。因此,在盘存档中,要求定期检查保管的大量的盘的品质。此外,在进行盘的租借或销售的盘的租借店或二手销售店中,也要求在该光盘的租借、销售之前,检查该盘的品质。
由于这样的问题,以往提出了很多用于高速检查盘是否良好的装置。这种检查装置大多具备与通常的盘重放装置同样的盘驱动。并且,检查装置大多用该盘驱动来检查对盘进行重放时的重放品质、例如根据出错率等来检查盘的品质。
专利文献1:JP特开平10-302412号公报
但是,该出错检出量取决于各检查装置中搭载的光功率单元、数据处理的硬件,存在即使在检查同一个盘时也会因检查装置的不同而导致结果不同的情况。结果存在以下问题:按照各个检查装置,产生检查结果的偏差,无法正确检查品质。当然,通过更换或微调整配件以使OPU、数据处理的硬件的特性一致,可以减轻这种问题。但是,各种硬件的更换、微调整会产生成本增加、工时增加的新问题。
另外,在专利文献1中公开了通过变更在维特比解码处理中使用的路径存储长度来提高出错率的技术,但在这种技术中无法将出错灵敏度过低的检查装置的出错灵敏度修改为适当值。
发明内容
因此,本发明的目的在于提供一种不进行硬件的微调整等就能抑制装置间检查结果的偏差的盘检查装置。
本发明的盘检查装置是用于检查盘的盘检查装置,其特征在于,包括:RF信号取得机构,根据向盘照射重放用激光时得到的反射光的强度,取得RF信号;解码机构,对输入的RF信号进行纠错的同时进行解码,并输出纠错后的解码数据及出错率;和S/N比调整机构,能够使由上述RF信号取得机构取得并且向解码机构输入之前的RF信号的S/N比劣化为以下的值,即,使得检查品质已知的基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率收敛于规定的范围内的值。
在优选方式中,上述S/N比调整机构通过对输入到上述解码机构前的RF信号附加白噪声,而使S/N比劣化。在其他的优选方式中,上述S/N比调整机构使输入到上述解码机构前的RF信号劣化为以下的值,即,使得检查上述基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率和预先规定的基准值间的差最小的值。
在其他的优选方式中,还包括系数乘法机构,该系数乘法机构使从上述解码机构输出的出错率与系数相乘,并将该系数乘法计算后的出错率作为该盘检查装置的检查结果输出,上述系数能够调整为使得检查上述基准盘时在特定跳动值下得到的出错率成为预先规定的基准值的值。
在其他的优选方式中,上述解码机构包括:维特比解码机构,对附加上述噪声后的信号进行维特比解码;和主解码机构,对从上述维特比解码机构输出的数据进行纠错的同时进行解码,并输出纠错后的解码数据和出错率,所述盘检查装置还包括维特比调整机构,该维特比调整机构能够调整上述维特比解码机构的出错率纠正能力,以使检查上述基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率成为收敛于上述规定范围内的值。此时优选,上述维特比调整机构通过改变在维特比纠正处理中使用的路径存储的存储长度,来调整纠正能力。
作为本发明的另一方面的盘检查装置的调整方法,所述盘检查装置包括解码机构,该解码机构对重放盘时得到的RF信号进行纠错的同时进行解码,并输出纠错后的解码数据和出错率,所述调整方法的特征在于,包括S/N比调整步骤,使输入到上述解码机构的RF信号的S/N比劣化为以下的值,即,使得检查品质已知的基准盘时从上述解码机构输出的特定跳动值下的出错率收敛于规定的范围内的值。
根据本发明,由于RF信号的S/N比能够在一定范围内劣化,因此即使是出错灵敏度过低的检查装置,也能够调整成接近基准检查装置的出错灵敏度。结果,不进行硬件的微调整等就能抑制装置间检查结果的偏差。
附图说明
图1是表示本发明实施方式的盘检查装置的结构的框图。
图2是表示解码单元的详细结构的框图。
图3是表示各个装置的出错灵敏度差异的图表。
图4是表示出错灵敏度调整的流程的流程图。
图5是表示噪声强度/存储长度调整的流程的流程图。
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