[发明专利]触碰事件的探测方法与探测电路

说明书

技术领域

本发明涉及触控技术，尤其是涉及一种用以决定触控面板上的触碰点的探测方法及其相关装置。

背景技术

在现代化电子商品当中，电容式触控面板由于简单易操作的特性而常被用来作为使用者与机器的沟通接口，其中投射式电容(projective capacitive)因具有支持多点触控(multi touch)、较高的透光率以及省电等特性而被广泛地应用在手机、车用导航器等可携式装置上。然而，投射式电容在用于触控面板的测量时，通常在横轴方向或是纵轴方向仅有数个到数十个感测电极(sensingelectrode)，而该触控面板的这些感测电极会依据其上的一触碰事件来分别产生复数个感测信号，并依据两两相邻的感测电极所产生的感测信号之间的差量，来分别产生复数个感测输出。在现有技术中，触碰点的计算通常是用内插的方式，经由计算出的感测输出所决定的预估峰值，或是以计算出的感测输出值与极值的比例来预估测量点与极值的距离。请参照图1，其为于已知的触控面板100上探测一触碰事件TEa的示例性示意图。如图所示，已知的触控面板100在X轴与Y轴上各具有六个感应轴X1～X6与Y1～Y6，而感应轴X1～X6、Y1～Y6分别具有相对应的感测输出值SX1a～SX6a、SY1a～SY6a。举例来说，对感应轴X1～X6而言，其中仅有感测输出值SX3a～SX5a为有效数值(即非零的数值)，感测输出值SX3a经由一探测电路比较感应轴X3所探测到的感测信号以及感应轴X2所探测到的感测信号后计算而得到，同样地，感测输出值SX4a与感测输出值SX5a经由该探测电路比较感应轴X4、X5与X5、X6所探测到的感测信号后计算而分别得到的数值。经由内插的方式来计算这些有效数值，便可计算出触碰事件TEa的触碰点位在感应轴X3与X4之间的位置。同理，经过计算对应感应轴Y1～Y6的有效数值(即SY3a～SY5a)，可得出触碰事件TEa的触碰点位在感应轴Y4的位置。

请再参照图2，其为已知触控面板100上探测另一触碰事件TEb的示例性示意图。相比于触碰事件TEa，触碰事件TEb的触碰点较小，其范围并无法涵盖其中探测电极的面积，而有效数值也因此减少。在图2的范例中，仅有感测输出值SX3b～SX4b以及SY4b为有效数值，因此后续在作计算时，无法利用内插法来精确地得到触碰点的位置。再者，当触碰事件TEb为一动态的触碰点时，例如使用者应用一触碰笔(touch pen)划过触碰面板100，由于缺乏足够的有效数值，其所探测到的触碰点轨迹会呈现非线性的特性，因此导致较差的系统效能。

所以，如何增加触控面板100上所探测到的有效数据，进而增加探测数据的线性度仍是此领域有待解决的一大问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种可增加有效探测数据的探测方法与探测电路，进而改善探测数据的线性度。

依据本发明的一实施方案，其提供了一种触碰事件的探测方法，用以在触控面板上探测触碰事件，其中该触控面板分别在第一维度与第二维度上包含有复数个第一感应轴与复数个第二感应轴，该探测方法包含有：针对每一个第一感应轴来选择不与该第一感应轴相邻的第一感应轴以作为第一参考轴，应用该第一感应轴以及该第一参考轴来得到对应该第一感应轴的第一感测数据；应用这些第二感应轴来得到对应每一个第二感应轴的第二感测数据；以及依据所有这些第一感应轴所对应的复数笔第一感测数据以及所有这些第二感应轴所对应的复数笔第二感测数据来得到触碰事件探测结果。

根据该实施方案所述的探测方法，其中所述第一参考轴与所述第一感应轴之间仅相隔有一第一感应轴。

根据该实施方案所述的探测方法，其中应用所述第二感应轴来得到对应每一个第二感应轴的所述第二感测数据的步骤包含：针对每一个第二感应轴：选择不与所述第二感应轴相邻的第二感应轴来作为第二参考轴，应用所述第二感应轴以及所述第二参考轴来得到对应所述第二感应轴的所述第二感测数据。

优选地，在该探测方法中，所述第一参考轴与所述第一感应轴之间仅相隔有一第一感应轴，以及所述第二参考轴与所述第二感应轴之间仅相隔有一第二感应轴。