[发明专利]SAS接口测试治具

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试治具，尤其涉及一种SAS接口测试治具。

背景技术

目前，一般通过测试探针来测试串行连接小型计算机系统接口(serialattached small computer systems interface，SAS)连接器的引脚的信号。然而，由于SAS连接器外围一般设有金属外壳，金属外壳高度比SAS连接器高，而SAS连接器的引脚却位于SAS连接器下端与电路板相焊接的焊接处，从而使测试探针较难直接、准确地碰触到SAS连接器的引脚，进而影响测试质量。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种可以方便准确测试主机板上的SAS接口的SAS接口测试治具。

一种SAS接口测试治具，其包括一个SAS连接器、至少一根传输线缆及至少一个SMA反级性公头，所述至少一根传输线缆一端与所述SAS连接器电性连接，所述至少一根传输线缆另一端与所述至少一个SMA反级性公头电性连接(所述SMA反级性公头103为Sub-Miniature-A的简称，其为一种圆管状接头)。所述SAS连接器用于与主机板上的SAS接口对接，所述至少一个SMA反级性公头用于连接至测试仪器。

与现有技术相比，本发明SAS接口测试治具的SAS连接器可以直接与主机板上的SAS接口对接，并通过SMA公头连接至测试仪器，测试方便、准确，而且效率高。

附图说明

图1是本发明SAS接口测试治具连接至SAS接口与示波器的示意图。

主要元件符号说明

SAS接口测试治具              10

SAS连接器                    101

传输线缆                     102

SMA反级性公头                103

主机板                       20

SAS接口                      30

示波器                       40

示波器输入端                 401

具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步详细说明。

请参阅图1，本发明提供的一种SAS接口测试治具10，其用于将一个待测试的主机板20的信号传输至一个示波器40。

所述SAS接口测试治具10包括一个SAS连接器101、传输线缆102、SMA反级性公头103。所述传输线缆102一端与所述SAS连接器101电性连接，所述传输线缆102另一端与所述SMA反级性公头103电性连接。所述SMA反级性公头103为Sub-Miniature-A的简称，其为一种呈圆管状接头。所述SMA反级性公头103上设有内螺纹及位于中心轴位置的插针。可以理解的是，所述SMA反级性公头103也可以是设有外螺纹，中心轴位置设有插孔的结构。SAS连接器101用于连接至待测试主机板20上的一个SAS接口30。SMA反级性公头103用于连接示波器40。传输线缆102通过焊接方式与SAS连接器101及SMA反级性公头103相连。

所述SAS连接器101包括至少一绝缘本体(未图示)，及若干导电端子(未图示)，其中所述导电端子有多个信号端子(未图示)。

所述传输线缆102优选的为铜质材料，设有4对即8根，所述传输线缆102通过焊接方式连接至SAS连接器101的信号端子的焊接部，所述传输线缆102的另一端通过焊接方式连接至SMA反级性公头103。

本实施方式中，每一传输线缆102分别连接一个SMA反级性公头103，即SAS接口测试治具10共设有8个SMA反级性公头103。

所述示波器40为一种测试仪器，其设有8个与SMA反级性公头对应的示波器输入端401。例如，所述SMA反级性公头103为圆管状具有内螺纹及位于中心轴位置的插针的构造，则示波器输入端401为圆管状具有外螺纹及位于中心轴位置的插孔的构造。所述示波器40用于通过SAS接口30测试主机板20的讯号，所述讯号包括眼图、电压转换率Slew Rate、和Jitter等参数。Jitter是来自于一个参考事件与理想时间的偏差，参考事件是电子事件的微分零点交叉口(differential zero crossing)和光学系统的标称接收门限功率电平。Jitter是由确定性内容和高斯(随机)内容组成的。