[发明专利]半导体器件和移除半导体器件噪声的方法无效
| 申请号: | 201010194985.8 | 申请日: | 2010-05-31 |
| 公开(公告)号: | CN101938266A | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
| 发明(设计)人: | 胁田里加 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号: | H03K5/1252 | 分类号: | H03K5/1252 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 孙志湧;穆德骏 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体器件 噪声 方法 | ||
1.一种半导体器件,包括:
噪声检测电路,所述噪声检测电路被构造为检测叠加在输入信号上的噪声并且在预定时间段期间输出遮蔽信号;
输入信号延迟电路,所述输入信号延迟电路被构造为延迟所述输入信号并且输出其延迟信号;以及
遮蔽电路,所述遮蔽电路被构造为输出其中基于所述遮蔽信号遮蔽所述延迟信号的输出信号。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述噪声检测电路包括:
第一触发器,所述第一触发器被构造为响应于所述输入信号和所述噪声中的任何一个进行重置,
第二触发器,所述第二触发器被构造为响应于所述输入信号进行重置,
一致确定电路,所述一致确定电路被构造为确定所述第一触发器的第一输出与所述第二触发器的第二输出是否一致,并且如果所述第一输出与所述第二输出不一致则输出不一致信号,
不一致信号延迟电路,所述不一致信号延迟电路被构造为在所述预定时间段期间延迟所述不一致信号,以及
第三触发器,所述第三触发器被构造为响应于所述不一致信号进行设置并且当所述第二触发器被重置时进行重置。
3.根据权利要求2所述的半导体器件,其中响应于所述输入信号异步重置所述第一触发器和所述第二触发器。
4.根据权利要求2所述的半导体器件,其中响应于所述输入信号异步重置所述第一触发器,并且
其中所述第二触发器与时钟信号同步并且响应于所述输入信号被重置。
5.根据权利要求2所述的半导体器件,其中所述第二触发器和所述输入信号延迟电路通过积分电路接收所述输入信号。
6.根据权利要求5所述的半导体器件,其中所述第一触发器通过所述积分电路接收所述输入信号。
7.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述第一触发器的噪声抵抗性质优于所述第二触发器的噪声抵抗性质。
8.根据权利要求7所述的半导体器件,其中包括在所述第一触发器中的晶体管的尺寸小于包括在所述第二触发器中的晶体管的尺寸。
9.根据权利要求7所述的半导体器件,其中提供给所述第一触发器的电源电压低于提供给所述第二触发器的电源电压。
10.根据权利要求7所述的半导体器件,其中包括在所述第一触发器中的晶体管的阈值电压低于包括在所述第二触发器中的晶体管的阈值电压。
11.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述噪声检测电路被布置在所述输入信号被提供的输入端子的附近。
12.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述噪声检测电路被布置在执行电源提供的电源提供端子的附近。
13.根据权利要求1所述的半导体器件,进一步包括:
包括所述噪声检测电路的多个噪声检测电路,
其中所述多个噪声检测电路被布置为分散在所述半导体器件的周围。
14.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述输入信号是取决于延迟被允许的电压电平来传输数据的电平信号。
15.根据权利要求14所述的半导体器件,其中所述电平信号是异步地初始设置的重置信号。
16.一种移除半导体器件噪声的方法,包括:
检测叠加在输入信号上的噪声;
延迟所述输入信号;以及
遮蔽延迟信号,其中当检测到噪声时延迟所述输入信号。
17.根据权利要求16所述的移除半导体器件噪声的方法,其中所述检测步骤包括:
响应于所述输入信号重置第一触发器,
响应于所述输入信号重置第二触发器,
确定所述第一触发器的第一输出是否与所述第二触发器的第二输出一致,
如果所述第一输出与所述第二输出不一致,则在预定时间段流逝之后重置所述第一触发器和所述第二触发器,
如果所述第一输出与所述第二输出不一致,则设置第三触发器以输出遮蔽信号;以及
当所述第二触发器被重置时,重置所述第三触发器以解除所述遮蔽信号,
其中所述遮蔽步骤包括:
基于所述遮蔽信号遮蔽所述延迟信号。
18.根据权利要求17所述的移除半导体器件噪声的方法,进一步包括:
将所述第一触发器的噪声抵抗性质设置为优于所述第二触发器的噪声抵抗性质。
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