[发明专利]光记录介质用物镜的检查方法

权利要求书

1.一种光记录介质用物镜的检查方法，在按照使从光源出射的光通过光记录介质的透光性的保护层而聚光在上述光记录介质的规定位置的方式对将第1温度作为设计温度而设计的塑料制的光记录介质用物镜进行检查时，将取代上述保护层的检查用平行平板插入到通过该物镜所聚光的光的光路而进行检查，其特征在于，包括：

第1工序，其中求出在与上述第1温度不同的第2温度下的上述物镜的形状及折射率；

第2工序，其中按照由具有上述第2温度下的形状及折射率的上述物镜和与上述检查用平行平板相同的材质且具有上述第2温度下的折射率的计算用平行平板构成的光学系统的像差变为最小的方式，决定上述计算用平行平板的厚度；

第3工序，其中利用与在上述第2工序中决定的上述计算用平行平板的厚度相同的厚度的上述检查用平行平板，在上述第2温度下对基于上述设计而制作的上述物镜进行检查。

2.一种光记录介质用物镜的检查方法，在按照使从光源出射的光通过光记录介质的透光性的保护层而聚光在上述光记录介质的规定位置的方式，对将第1温度作为设计温度而设计的塑料制的光记录介质用物镜进行检查时，将取代上述保护层的检查用平行平板，插入到通过该物镜而聚光后的光的光路而进行检查，其特征在于，包括：

第1工序，其中求出由上述物镜和计算用平行平板构成的光学系统的在上述第1温度下的像差变为最小时的上述计算用平行平板的厚度，所述计算用平行平板是与上述检查用平行平板相同材质且与上述保护层折射率不同；

第2工序，其中求出与上述第1温度不同的第2温度下的上述物镜的形状及折射率、和上述第2温度下的上述计算用平行平板的折射率；

第3工序，其中对由具有在上述第2温度下的形状及折射率的上述物镜、和具有上述第2温度下的折射率和在上述第1工序中求出的厚度的上述计算用平行平板构成的光学系统的像差进行计算；

第4工序，其中按照由具有在上述第2温度中的形状及折射率的上述物镜、和具有在上述第2温度中的折射率的上述计算用平行平板构成的光学系统的像差小于在上述第3工序中计算出的像差的方式，决定上述计算用平行平板的厚度；

第5工序，其中利用与在上述第4工序中决定的上述计算用平行平板的厚度相同的厚度的上述检查用平行平板，在上述第2温度下对基于上述设计所制作的上述物镜进行检查。