[发明专利]单片式半导体开关及制作方法有效

专利信息
申请号: 201010104538.9 申请日: 2010-01-27
公开(公告)号: CN101794781A 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: O·黑伯伦;W·里杰;L·戈尔根斯;M·波尔兹尔;J·肖斯沃尔;J·克伦里 申请(专利权)人: 英飞凌科技奥地利有限公司
主分类号: H01L27/085 分类号: H01L27/085;H01L27/088;H01L23/495;H01L21/8232;H01L21/8234;H01L21/50
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李娜;王忠忠
地址: 奥地利*** 国省代码: 奥地利;AT
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摘要:
搜索关键词: 单片 半导体 开关 制作方法
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,包含:

一个半导体管芯,具有彼此相对的第一侧和第二侧,且包含第一 和第二FET;

其中该第一FET的第一源极/漏极与该第二FET的第一源极/漏极 电耦合到该一个半导体管芯的第一侧处的至少一个接触区域;

其中该第一FET的第二源极/漏极、该第一FET的栅极、该第二 FET的第二源极/漏极以及该第二FET的栅极电耦合到该一个半导体管 芯的第二侧处的接触区域;

其中该第一FET的第二源极/漏极的接触区域、第一FET的栅极 的接触区域、该第二FET的第二源极/漏极的接触区域以及该第二FET 的栅极的接触区域彼此电隔离;

其中从该第一侧处的至少一个接触区域到该第一和第二晶体管 的第一源极/漏极的电连接包括导电栓。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中该第一和第二FET 是n型沟道横向FET。

3.根据权利要求1所述的半导体装置,其中该第一FET是n型 沟道横向FET且该第二FET是n型沟道沟槽FET,且其中从该第一侧 处的第一FET的接触区域到该第一FET的第一源极/漏极的电连接包 括导电栓。

4.根据权利要求3所述的半导体装置,还包含与该第二FET的 第一和第二源极/漏极并联连接的肖特基二极管。

5.根据权利要求1所述的半导体装置,其中该第一FET是p型 沟道沟槽FET且该第二FET是n型沟道沟槽FET。

6.根据权利要求1所述的半导体装置,其中该第一和第二FET 是n型沟道沟槽FET,该n型沟道沟槽FET包括作为在该一个半导体 管芯的n型半导体基板之上形成的p型外延层的一部分的p型体区域。

7.根据权利要求6所述的半导体装置,其中该一个半导体管芯 包含该n型半导体基板、该n型半导体基板上的第一n型外延层以及 该第一n型外延层上的p型外延层的叠层。

8.根据权利要求7所述的半导体装置,还包含:

延伸穿过该第一FET的区域中的第一n型外延层的导电栓,其中, 分别地,该导电栓的一端与该第一FET的p型体区域接触而该导电栓 的另一端与该n型半导体基板接触。

9.根据权利要求7所述的半导体装置,其中该叠层包含该p型 外延层上的第二n型外延层。

10.根据权利要求6所述的半导体装置,还包含:

分别与该第一FET和该第二FET的沟槽的侧壁邻接的n型半导体 区,且其中,两个n型半导体区在相邻两个沟槽之间的区域中彼此相 对布置。

11.根据权利要求6所述的半导体装置,其中该p型外延层位于 该n型半导体基板上。

12.根据权利要求1所述的半导体装置,还包含包括单个引线框 架的封装,该一个半导体管芯经由该第一侧安装在该单个引线框架 上。

13.根据权利要求12所述的半导体装置,还包含布置在该一个 半导体管芯的第一侧上的电容器,该电容器电耦合在该一个半导体管 芯的第二侧处的第一和第二FET的源极/漏极的接触区域之间。

14.根据权利要求12所述的半导体装置,还包含:

导电夹,分别电耦合在该一个半导体管芯的第二侧处的第一和第 二FET的源极/漏极的接触区域与封装的引脚之间。

15.根据权利要求12所述的半导体装置,其中该封装的引线框 架在一侧暴露,该侧与其上安装有该一个半导体管芯的那侧相对。

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