[发明专利]一种检测DNA碱基突变的方法无效
| 申请号: | 201010002603.7 | 申请日: | 2008-04-07 |
| 公开(公告)号: | CN101851670A | 公开(公告)日: | 2010-10-06 |
| 发明(设计)人: | 王树;贺芳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号: | C12Q1/68 | 分类号: | C12Q1/68;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 关畅;任凤华 |
| 地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 检测 dna 碱基 突变 方法 | ||
1.一种检测DNA中是否存在碱基突变的方法,依次包括以下步骤:
1)制备单链多核苷酸D1,所述D1与待测DNA的正常序列完全互补;
2)制备单链多核苷酸D2,用荧光素标记序列D2;所述D2能形成发卡DNA,茎环与D1完全互补,茎干与D1至少有6nt不互补,且茎干区含有限制性内切酶的酶切位点;
3)将D1和D2混合,再加入待测DNA,然后加入与D2茎干区的酶切位点相应的限制性内切酶,再加入下述式(I)的化合物;同时设置用待测DNA的正常序列组成的DNA片段取代待测DNA的体系作为对照;
按照如下方法确定待测DNA是否存在突变:若待测DNA反应体系的I424nm/I527nm小于等于对照体系的2.57±0.05,待测DNA存在碱基突变;若待测DNA反应体系的I424nm/I527nm等于对照体系的3.8±0.11,待测DNA不存在碱基突变;所述I424nm为发射波长为424nm的发射峰的荧光强度;所述I527nm为发射波长为527nm的发射峰的荧光强度;
式(I);
式(I)中,m=1~10,n=2~100;R1,R2,R3,R4=CXH2X+1或-O(CXH2X+1),x=1~10;R5=CXH2X+1,x=1~3;R6=Br、Cl、I、CF3COO或CH3COO。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述式(I)中,m=6、n=6、R1=H、R2=H、R3=H,、R4=H、R5=CH3、R6=Br。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述式(I)中,m=6、n=6、R1=H、R2=H、R3=H,、R4=H、R5=CH2CH3、R6=I。
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