[发明专利]用于检测光学触摸敏感装置中的多触摸事件的方法和设备

权利要求书

1.一种用于确定接触敏感光学装置中的触摸点的方法，该接触敏感光学装置包括多个光发射器和多个光检测器，所述光发射器和光检测器在其之间限定多个光束路径，所述光束路径形成在一个区域延伸的光束相交图案，该方法包括如下步骤：

检测沿着一对光束路径中的每个传输的能量的调制；

在所述一对调制的光束的相交处指定候选触摸点；

分析靠近所述候选触摸点或与所述候选触摸点重合的预定的其他光束；以及

响应于所述分析，确定所述候选触摸点是否是实际的触摸点。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述指定步骤是基于所述预定的其他光束的调制度的函数。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述预定的其他光束的影响在取决于调制度的所述函数中被加权。

4.根据权利要求3所述的方法，其中对于每个预定的其他光束的所述加权取决于下述一个或多于一个：所述预定的其他光束与所述候选触摸点的接近度；所述预定的其他光束与限定所述候选触摸点的光束的角度；以及所述预定的其他光束的数目。

5.根据任何前述权利要求所述的方法，其中所述分析步骤是基于靠近所述候选触摸点或与所述候选触摸点重合的预定的其他光束的交点。

6.根据任何前述权利要求所述的方法，还包括对于每个光束交点从数据库检索储存的数据的步骤，该数据库限定所述预定的其他光束或预定的其他光束相交，所述分析步骤至少部分地基于所述储存的数据。

7.根据权利要求6所述的方法，其中所述储存的数据包括与所述预定的其他光束或预定的其他光束相交相关的相应的加权和/或接近度值。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其中光束相交图案是关于光束路径区域的至少一个轴对称的，其中所述检索步骤包括检索关于所述至少一个轴的一侧上的光束的储存数据，该方法还包括根据所述储存的数据推断在所述至少一个轴的对称的相对侧上光束的光束数据的步骤。

9.根据任何前述权利要求所述的方法，还包括如果所述调制超过阈值水平，则指定所述调制作为中断光束的步骤，并且其中在所述指定步骤中，在一对被中断光束的相交处指定所述候选触摸点。

10.根据权利要求9所述的方法，其中所述阈值水平是自适应阈值水平。

11.根据权利要求9所述的方法，其中所述指定步骤包括将所述检测的调制与触摸点区域的预定的调制水平进行比较。

12.根据权利要求11所述的方法，其中该方法包括检索数据的步骤，该数据表示用于触摸点区域的实际触摸点的典型调制水平。

13.根据权利要求12所述的方法，其中所述数据包括下述数据的一种或多于一种：通过触摸点区的光束的数目；落入该触摸点区的光束相交的数目；或在该触摸点区中期望的最大调制。

14.根据任何前述权利要求所述的方法，还包括根据搜索半径距离将实际触摸点分成组的分组步骤，该搜索半径距离是从一个组单元到该相同组的至少一个其他单元的距离。

15.根据权利要求14所述的方法，其中所述光束相交图案是非均匀的，并且所述搜索半径距离根据该光束相交图案中的组单元的位置而变化。

16.根据权利要求14或15所述的方法，还包括估算组的中心作为所有组单元的平均位置的步骤。

17.根据权利要求14或15所述的方法，还包括估算组的中心作为围绕该组的边界矩形的中心的步骤。

18.根据权利要求14或15所述的方法，还包括估算组的中心作为外面的组单元的平均位置的步骤。

19.根据权利要求16、17或18所述的方法，所述估算步骤是基于加权的平均，该加权取决于在对该平均有影响的每个点处的光束的调制度。

20.根据任何前述权利要求所述的方法，还包括确定非圆的触摸接触区的取向的步骤。

21.根据权利要求20所述的方法，其中在所述确定步骤中，所述取向通过数学旋转位于围绕该触摸区的所述估算中心的接触区的周边上或附近的至少两个确认的触摸点来确定，并且确定每个触摸点和固定轴之间的距离的最小或最大平均绝对值。