[发明专利]用于磁感应断层成像的方法和系统无效

专利信息
申请号: 200980135589.3 申请日: 2009-09-02
公开(公告)号: CN102187252A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 闫铭;谌达宇;靳华 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01V3/10 分类号: G01V3/10
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 谢建云;刘鹏
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 感应 断层 成像 方法 系统
【权利要求书】:

1. 一种用于重构关注对象(301)的图像的系统(300),所述系统包含:

- 至少一个发射线圈(312、314),其配置成生成将应用到该关注对象的主磁场;以及

- 至少一个测量线圈装置(315、317),其配置成测量由次磁场感应形成的电信号,该次磁场是由该关注对象响应于该主磁场而生成的;

其中所述至少一个测量线圈装置(315、317)包含置于基本上同一平面内的多个测量线圈(201、202、203、204)。

2. 如权利要求1所述的系统,还包含用于基于由该次磁场感应形成的测量的电信号重构所述关注对象的图像的处理器(320),该处理器具有配置成控制所述多个测量线圈中的每一个以测量其上的第一和第二电信号的控制单元(322)。

3. 如权利要求2所述的系统,其中该第一和第二电信号为感应电压,且该处理器还包含第一选择单元(324),其配置成从所述多个测量线圈选择一个测量线圈,所选择的测量线圈具有所述线圈两端的该第一电压和第二电压之间的差分电压与该第一电压之间的比率的最大绝对值。

4. 如权利要求2所述的系统,其中该第一和第二电信号为感应电压,且该处理器还包含第二选择单元(325),其配置成从所述多个测量线圈选择一个测量线圈,所选择的测量线圈具有所述线圈两端的该第一电压和第二电压之间的差分电压的最大绝对值。

5. 如权利要求3或4所述的系统,其中该处理器还包含第一计算器(326),其配置成基于对应于所选择的测量线圈的差分电压计算该关注对象的电导率分布变化。

6. 如权利要求2所述的系统,其中该处理器还包含第二计算器(328),其配置成基于从所述多个第一和第二电压导出的多个加权差分电压计算该关注对象的电导率分布变化。

7. 如权利要求1所述的系统,其中所述多个测量线圈中的每一个为扇形的,且所述多个测量线圈形成圆形平面。

8. 如权利要求1所述的系统,其中所述多个测量线圈中的每一个为方形,且所述多个测量线圈形成方形平面。

9. 如权利要求7或8所述的系统,其中所述多个测量线圈中的每一个围成基本上相同的面积。

10. 一种磁感应断层成像扫描器,包含如权利要求1至9中任意一项所述的系统。

11. 一种重构关注对象的图像的方法,所述方法包含下述步骤:

(a)通过至少一个发射线圈生成(410)将应用到该关注对象的主磁场;以及

(b)通过至少一个测量线圈装置测量(420)由次磁场感应形成的电信号,所述至少一个测量线圈装置包含置于基本上同一平面内的多个测量线圈,该次磁场是由该关注对象响应于该主磁场而生成的。

12. 如权利要求11所述的方法,其中步骤(b)包含步骤(430):控制所述多个测量线圈中的每一个从而在该关注对象的电导率分布变化之前和之后测量第一和第二电信号。

13. 如权利要求12所述的方法,其中该第一和第二电信号为感应电压,该方法还包含步骤(440):从所述多个测量线圈选择一个测量线圈,所选择的测量线圈具有该第一电压和第二电压之间的差分电压与该第一电压的比率的最大绝对值。

14. 如权利要求12所述的方法,其中该第一和第二电信号为感应电压,该方法还包含步骤(440'):从所述多个测量线圈选择一个测量线圈,所选择的测量线圈具有该第一电压和第二电压之间的差分电压的最大绝对值。

15. 如权利要求13或14所述的方法,还包含步骤(450):基于对应于所选择的测量线圈的差分电压,计算该关注对象的电导率分布变化。

16. 如权利要求12所述的方法,还包含步骤(450'):基于从所述多个第一和第二电压导出的多个加权差分电压,计算该关注对象的电导率分布变化。

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