[发明专利]高分子化合物膜的判别方法无效

专利信息
申请号: 200980108301.3 申请日: 2009-03-10
公开(公告)号: CN101965510A 公开(公告)日: 2011-02-02
发明(设计)人: 川田武史;金坂将 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G01N24/08 分类号: G01N24/08;C08J5/22
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郭煜;高旭轶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 高分子化合物 判别 方法
【权利要求书】:

1.高分子化合物膜的判别方法,其特征在于:在使用磁场强度7.05特斯拉的固体NMR装置测定高分子化合物膜的驰豫时间(T1ρ)时,选择T1ρ的时间变化小的高分子化合物膜。

2.权利要求1所述的高分子化合物膜的判别方法,其特征在于:T1ρ是使用磁场强度7.05特斯拉的固体NMR装置测定的、温度80℃下的13C核的T1ρ(ms),在用式(1)表示T1ρ(ms)相对于测定开始后的时间t(小时)的变化时,选择式(1)的系数a满足式(2)的高分子化合物膜。

T1ρ=a×ln(t)+b    (1)

0≤a≤25            (2)

3.高分子化合物膜,其特征在于:使用磁场强度7.05特斯拉的固体NMR装置测定温度80℃下的高分子化合物膜的T1ρ(ms),在用式(1)表示T1ρ(ms)相对于测定开始后的时间t(小时)的变化时,式(1)的系数a满足式(2)。

T1ρ=a×ln(t)+b    (1)

0≤a≤25            (2)

4.权利要求3所述的高分子化合物膜,其含有构成工程塑料的高分子化合物而成。

5.权利要求3或4所述的高分子化合物膜,其含有具有离子交换性基团的聚合物。

6.权利要求3-5中任一项所述的高分子化合物膜,其含有嵌段共聚物,该嵌段共聚物含有至少各1个以上具有离子交换性基团的嵌段和不具有离子交换性基团的嵌段。

7.权利要求3-6中任一项所述的高分子化合物膜,其含有嵌段共聚物,该嵌段共聚物含有各1个以上主链或支链上具有芳族基团、具有离子交换性基团的嵌段;和主链或支链上具有芳族基团、不具有离子交换性基团的嵌段。

8.权利要求3-7中任一项所述的高分子化合物膜,其含有聚芳撑系嵌段共聚物,该聚芳撑系嵌段共聚物含有各1个以上具有选自膦酸基、羧酸基、磺酸基、磺酰亚氨基的1种以上的离子交换基团的嵌段;和不具有离子交换性基团的嵌段。

9.高分子电解质膜的制备方法,是将含有高分子电解质的溶液流延涂布在基材上、通过除去溶剂获得高分子电解质膜,其特征在于:将该溶剂除去步骤保持在该步骤的环境的比湿H满足0.01≤H≤0.5的范围内,且保持在该步骤的环境的摄氏温度T满足式(3)的范围内。

100≤T≤160    (3)

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