[发明专利]焦点检测装置和具有焦点检测装置的成像设备有效
| 申请号: | 200980108105.6 | 申请日: | 2009-03-06 |
| 公开(公告)号: | CN101960353A | 公开(公告)日: | 2011-01-26 |
| 发明(设计)人: | 大贯一朗;长野明彦;高宫诚 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | G02B7/28 | 分类号: | G02B7/28;G02B7/34;G03B13/36;H04N5/232;H04N9/07;H04N101/00 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 罗银燕 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 焦点 检测 装置 具有 成像 设备 | ||
1.一种布置有多个像素的焦点检测装置,各像素具有用于将入射光束转换成信号电荷的光电转换单元和在所述光电转换单元附近具有焦点位置的微透镜,所述焦点检测装置包括:
电极组,所述电极组用于读出由所述多个像素的所述光电转换单元转换的信号电荷,
其中,所述多个像素包含用于产生拍摄图像的多个成像像素和用于产生用于通过相位差焦点检测方法进行焦点检测的图像信号的多个焦点检测像素,并且
对于所述成像像素,所述电极组被布置为不遮挡经由所述微透镜进入所述光电转换单元的光束,并且,对于所述焦点检测像素,所述电极组被布置在所述光电转换单元和所述微透镜之间,以形成用于限制经由所述微透镜进入所述光电转换单元的光束之中沿预定的光瞳分割方向的光束的开口。
2.根据权利要求1的装置,其中
所述电极组包含在所述光电转换单元周围布置的多个电极,并且
所述开口是通过向所述焦点检测像素的所述光电转换单元的中心延伸在所述焦点检测像素周围布置的电极的宽度而形成的。
3.根据权利要求2的装置,其中
所述电极组具有多层结构,
所述开口的形状具有与所述光瞳分割方向垂直的边和与所述光瞳分割方向平行的边,并且
限定至少所述开口的与所述光瞳分割方向垂直的边的电极是所述电极组之中最远离所述微透镜的焦点位置的层以外的层中的电极。
4.根据权利要求3的装置,其中
限定所述开口的与所述光瞳分割方向垂直的边的电极是所述电极组之中最远离所述微透镜的焦点位置的层以外的层中的电极,并且
限定所述开口的与所述光瞳分割方向平行的边的电极是所述电极组之中比限定所述开口的与所述光瞳分割方向垂直的边的电极远离所述微透镜的焦点位置的层中的电极。
5.根据权利要求3的装置,其中
限定所述开口的与所述光瞳分割方向垂直的边的电极和限定所述开口的与所述光瞳分割方向平行的边的电极都不是所述电极组之中最远离所述微透镜的焦点位置的层中的电极,并且
在布置在所述焦点检测像素周围的电极之中,比限定所述开口的边的电极远离所述微透镜的焦点位置的层中的电极被形成,以对于所述焦点检测像素的所述光电转换单元的不被限定所述开口的边的电极遮光的区域进行遮光。
6.根据权利要求1至5中任一项的装置,其中,所述多个焦点检测像素以相等的密度被布置,并且包含具有第一光瞳分割方向的焦点检测像素对和具有与所述第一光瞳分割方向垂直的第二光瞳分割方向的焦点检测像素对。
7.根据权利要求1至5中任一项的装置,还包括:
产生构件,所述产生构件用于基于从所述多个焦点检测像素读出的信号电荷,产生用于检测所述光瞳分割方向上的相位差的一对图像信号;和
计算构件,所述计算构件用于从由所述产生构件产生的所述一对图像信号计算散焦量。
8.一种成像设备,包括:
具有聚焦透镜的摄影光学系统;
在权利要求7中限定的焦点检测装置;
驱动构件,所述驱动构件用于根据由所述焦点检测装置的计算构件计算的散焦量来驱动所述聚焦透镜;和
图像处理构件,所述图像处理构件用于基于从所述焦点检测装置的成像像素读出的信号电荷来产生图像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200980108105.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





