[实用新型]用于在计算X线断层照相系统里压缩投射数据的装置无效
| 申请号: | 200920173896.8 | 申请日: | 2009-09-10 |
| 公开(公告)号: | CN201500135U | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
| 发明(设计)人: | 阿尔伯特·W·魏格纳;凌一 | 申请(专利权)人: | 信飞系统公司 |
| 主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;唐文静 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 计算 断层 照相 系统 压缩 投射 数据 装置 | ||
1.一种用于在计算X线断层照相系统中压缩投射数据的装置,其特征在于,所述计算X线断层照相系统包括多个传感器,所述多个传感器提供多个传感器量度以形成一组或多组投射数据,其中每组投射数据表示投射域的一部分并且包括投射数据采样的阵列,所述阵列具有至少一行采样,其中每个采样具有由采样坐标所指示的在所述阵列中的位置,所述装置包括:
压缩子系统,其被耦合以接收投射数据的采样,并提供已压缩采样给数据传送接口,所述压缩子系统还包括:
存储器,其存储表示衰减分布的一个或多个参数,其中所述衰减分布是所述采样坐标的函数并指明多个衰减值,其中所述衰减值小于或等于1;
衰减器,其耦合到所述存储器并根据所述衰减分布来衰减所述采样以形成幅度小于或等于所述采样的原始幅度的已衰减采样;以及
编码器,其编码所述已衰减采样以产生所述已压缩采样。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述编码器还包括:
块浮点编码器,其应用到所述已衰减采样以形成所述已压缩采样。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述编码器还包括:
差分运算器,其计算相应的已衰减采样之间的多个差值以形成多个差分采样;以及
块浮点编码器,其应用到差分采样以形成所述已压缩采样。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述差分运算器被配置成根据以下之一来计算所述差值:来自所述阵列的每行的连续的已衰减采样之间的差值;来自所述阵列的连续行的对应位置的已衰减采样之间的差值;以及来自连续投射数据组的对应位置的已衰减采样之间的差值。
5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述衰减分布包括底数为2的指数函数,其指数基于采样坐标,并且所述指数小于或等于零。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述衰减分布的参数包括向右移位参数,其中所述衰减器包括移位器,所述移位器根据所述向右移位参数将相应采样向右移位n比特,其中n大于或等于零。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,用于相应采样的衰减值小于1,以提供对所述相应采样的有损编码。
8.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,用于相应采样的衰减值等于1,以提供对所述相应采样的无损编码。
9.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述衰减分布的参数还包括:
对应于采样行中的第一边缘采样的衰减分布的第一边界;以及
对应于采样行中的第二边缘采样的衰减分布的第二边界,其中所述衰减器将所述衰减分布应用到具有介于所述第一边界与所述第二边界之间的采样坐标的采样。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述压缩子系统还包括:
边缘检测器,其被应用到所述阵列的行中的采样,其中所述边缘检测器确定所述采样行中的所述第一边缘采样和所述第二边缘采样,并提供对应的第一边缘和第二边缘给所述衰减器。
11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,对应于空白空间的投射数据的值小于对应于被扫描的对象的投射数据的值,所述边缘检测器还包括:
差分计算器,其计算所述阵列的行中的采样之间的多个差值;
阈值运算器,其被应用到所述差值,并形成具有大于正阈值的差值的第一组候选边缘采样以及形成具有小于负阈值的差值的第二组候选边缘采样;以及
边缘选择器,其接收所述第一组和所述第二组,其中所述边缘选择器选择所述第一组中具有最低采样坐标的候选边缘采样作为所述第一边缘采样,并选择所述第二组中的具有最高采样坐标的候选边缘采样作为所述第二边缘采样。
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