[实用新型]测试电路板

说明书

技术领域

本实用新型为一种测试电路板，尤指一种用来测试待测试元件的测试电路板。

背景技术

为了确保集成电路(integrated circuit，IC)出货时的品质，在完成制造过程之后，一般都会对每一颗IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定此颗IC是否合格，并据以判断是否可将此颗IC供应给下游的厂商。

请参阅图1，图1所示为现有技术用来执行IC量产测试的测试架构示意图。在该测试架构中，利用测试机(tester)10来作为测试待测试元件(Device Under Test，DUT)22的工具。其中，待测试元件22可为一待测的集成电路(IC)，而为了测试方便，待测试元件22通常设置于一待测试元件电路板(DUT board)20上。

请参阅图2，图2所示为现有技术的测试电路板的示意图。如图1以及图2所示，通常，测试机(10)在进行测试时，通常都搭配专属的待测试元件电路板(20)来进行测试，而且根据不同的待测试元件(22)，其相对应的待测试元件电路板(20)上的电路也有所不同，待测试元件电路板(20)上通常包含有一些基本的测试连接端点(24)用以对待测试元件(22)进行测试，例如：电源端(DPS)、继电器控制端(RELAY CONTROL)、通道端(CHANNEL)、CBIT端、万用孔等等。

此外，亦有人为了解决利用人工接线所带来的问题，而采用了另一种方式，该种方式利用将所需使用的测试电路另外安装在一印刷电路板上，并在印刷电路板上与待测试元件电路板(DUT board)上分别设置多个排线接槽，再利用排线连接印刷电路板与待测试元件电路板(DUT board)，用以将测试信号传送至印刷电路板，以对待测试元件进行测试。

实用新型内容

过去在进行IC测试时往往都需要利用人工接线的方式制作待测试元件电路板，但该方式相当麻烦且容易接错，此种情况下会导致测试者必需浪费额外的时间进行除错，不仅耗费时间又耗费人力；如果利用连接一印刷电路的方式进行测试，虽可避免人工接线所生的问题，但如所需测试的待测试元件是需要高稳定电压及20MHZ以上的高频率的待测元件时，则容易因排线在进行信号传输时产生信号干扰，使得测试产生误差；因此，本实用新型主要目的为提供一种测试电路板，以解决上述的问题。

本实用新型为一种测试电路板，安装于一测试机上，用来测试至少一待测试元件(device under test，DUT)，包括：至少一测试电路，利用印刷电路的方式直接将该至少一测试电路安装在该测试电路板上，且该至少一测试电路上设有至少一待测试元件插槽，用以放置该至少一待测试元件以进行测试；及多个信号接送点，用来接收该测试机所传送来的多个测试信号，并通过该至少一测试电路将该多个测试信号传送至该至少一待测试元件插槽来对该至少一待测试元件进行测试，且传送该至少一待测试元件根据该多个测试信号所对应产生的多个输出信号至该测试机。

本实用新型所述的测试电路板，该至少一测试电路指四组测试电路，使得该测试电路板一次测试四颗待测试元件。

本实用新型所述的测试电路板，该测试电路板上还包括：多个栓锁柱或栓锁孔，使该测试电路板稳固地架设于该测试机上。

本实用新型所述的测试电路板，该测试机为一VTT V8000的测试机。

本实用新型所述的测试电路板，该至少一待测试元件为集成电路或晶圆。

本实用新型所述的测试电路板，该至少一待测试元件指在进行测试时需要20兆赫兹以上频率的待测元件。

本实用新型所述的测试电路板，该至少一待测试元件指在进行测试时需要高稳定电压的待测元件，该高稳定电压的大小介于2.5伏至60伏特之间。

通过本实用新型的测试电路板，不仅可解决利用人工接线产生的费时易出错的问题外，同时亦因只需用利用单一测试电路板即可进行测，所以不会有因排线在进行信号传输时产生信号干扰的问题；如此可使测试的工作复杂度大幅简化且使效率提升，同时所测得的数据信息亦相对较为准确。

附图说明

图1为现有技术用来执行IC量产测试的测试架构示意图。

图2所示为现有技术的测试电路板的示意图。

图3所示为本实用新型的测试电路板的示意图(正面)。

图4所示为本实用新型的测试电路板的示意图(反面)。

图5所示为测试机的示意图。

图6所示为测试机的锁固盘的示意图。

图7所示为本实用新型的测试电路板结合于测试机上的示意图。

具体实施方式