[实用新型]一种二维位移测试装置有效

专利信息
申请号: 200920133724.8 申请日: 2009-06-26
公开(公告)号: CN201508165U 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 邹奇峰 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G01B11/03 分类号: G01B11/03
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518118 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 二维 位移 测试 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种位移测试装置,尤其是涉及一种二维位移测试装置。

背景技术

测试物体在一平面上的位移时,至少需要测得该物体在两个坐标方向的位移值,位移的大小可以用该物体所在位置处的坐标值来表示。通常为了获得物体所在位置的两个坐标值,一般采用的方法是在两个坐标方向上分别设置一位移传感器,分别来测试物体在这两个方向上的位移的大小,从而测得物体最终所在位置的坐标值,从而得出物体的位移的大小。在两个坐标方向上分别设置位移传感器会带来很多的缺点,因为采用两个传感器,从而使得硬件结构比较复杂;整个测试装置占用的空间大,从而使得安装不方便,测试精度低;还有就是成本较高等。

实用新型内容

本实用新型主要解决的问题是消除测试物体平面二维位移时采用两个传感器而造成硬件结构比较复杂、安装不方便、测试精度低等问题,从而提供一种能够同时测量两个坐标方向位移的二维位移测试装置。

本实用新型采用的技术方案是,一种二维位移测试装置,包括光电传感器模块,光纤式控制模块,单片机模块,数据显示模块;

光电传感器模块,该模块测量二维位移测试装置的位移的变化信息,并将该位移的变化信息通过一定的数据格式发送给光纤式控制模块;

光纤式控制模块,该模块接收由光电传感器模块发送的位移数据,并将接收到的位移数据进行格式转换,使得转换后的位移数据有利于单片机模块的处理,然后将经格式转换后的位移数据发送到单片机模块;

单片机模块,该模块接收由光纤式控制模块发送来的位移数据,并对接收到的位移数据进行累加处理,将该累加后的位移数据转换为二维坐标数据,然后将该二维坐标数据发送到数据显示模块;

数据显示模块,该模块接收由单片机模块发送来的数据并将数据通过显示装置显示出来。

通过光电传感器部分对外部参照物进行拍照并对所拍摄的照片进行分析得出整个二维位移测试装置的位移,然后通过光纤式控制模块和单片机模块对所测得的位移数据的处理,最终通过显示模块显示出来,从而达到了实时测量并显示出物体的平面二维位移,该位移测试装置是将上面所述四个模块集成在一起而构成的一个整体,从而简化了结构,使得该位移测试装置的安装变得简单,因为只有一个装置,所以位移的测试精度有了很好的保证。

作为优选,所述光电传感器模块包括发光二极管、光学透镜、电路板、光感应芯片及外壳,所述电路板通过螺钉与外壳固定相连并处于外壳内部,在电路板的中间部分开有一通孔,在电路板上通孔的正下方的外壳上也开有一通孔,所述光感应芯片具有一感光眼,光感应芯片焊接在电路板上且其感光眼部分位于电路板通孔的正上方,所述发光二极管焊接在电路板上,且发光二极管位于电路板通孔的边缘并与光感应芯片处于直接相对的位置,在电路板的通孔与外壳的通孔之间固定安装有一光学透镜,所述光学透镜通过其两端的平板安装部分与外壳固定相连,在光学透镜的中间部分具有一倒锥形的凸透镜和一具有空腔的棱镜,所述凸透镜部分位于光感应芯片感光眼的正下方,所述棱镜部分紧邻凸透镜部分,该棱镜具有一空腔,该空腔具有上、下两个相互平行的斜面,所述上、下斜面可将发光二极管发出的光反射到光感应芯片感光眼下方的外壳通孔外。

作为优选,所述光纤式控制模块主要包括一光纤式控制芯片,该芯片接受由光感应芯片传出的数据,并将接受到的数据的格式转换为PS/2,然后将PS/2格式的数据发送到单片机模块。

作为优选,所述单片机模块主要包括一单片机,该单片机接受由光纤式控制模块发送的PS/2格式数据,并将该PS/2格式数据进行处理二维成坐标值后传送到数据显示模块。

作为优选,所述数据显示模块主要包括数码管及其驱动电路,所述驱动电路接受由单片机模块传送的数据并将接受到的数据通过驱动所述数码管显示出来。

附图说明

图1为本实用新型二维位移测试装置的整体框架示意图;

图2为本实用新型二维位移测试装置的光电传感器模块的结构示意图;

图3为本实用新型二维位移测试装置所采用的光学透镜的立体示意图。

具体实施方式

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